-
公开(公告)号:CN114282478A
公开(公告)日:2022-04-05
申请号:CN202111372955.6
申请日:2021-11-18
Applicant: 南京大学
IPC: G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种修正可变电阻器件阵列点乘误差的方法,包括(1)将目标电导矩阵初始化写入可变电阻器件阵列;(2)计算可变电阻器件阵列的有效电导矩阵;(3)将步骤(2)所得的有效电导矩阵与目标电导矩阵对比,若满足收敛条件,则该方法执行完毕,否则继续执行以下步骤:将差值矩阵乘以调节系数η得到误差电导矩阵,根据此误差矩阵来调节实际硬件阵列上每个可变电阻器件的阻值,即调节实际可变电阻器件的电导矩阵Gwrite为Gwrite=G′write‑Gerror;其中Gerror为误差电导矩阵,G′write为上一次实际写入可变电阻器件的电导矩阵;调节之后,重复执行步骤(2)和(3),直到满足步骤(3)中的停止条件。本发明能够显著提高可变电阻器件阵列当中线路电阻引起的矩阵运算误差的修正效果,有广泛应用价值和潜力。
-
公开(公告)号:CN118569331B
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202410650458.5
申请日:2024-05-24
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种模拟硬件神经网络的训练方法及装置,包括:输入训练信息到模拟硬件神经网络,模拟硬件神经网络对输入信号建立响应,测量模拟硬件神经网络的输出结果;在模拟硬件神经网络运行的同时,给特定网络节点注入微扰信号,测量微扰信号产生的响应;根据两次测量的结果,更新模拟硬件神经网络内部的参数。本发明具有比现有技术具有更高的识别率和通用性,适用于所有类型的模拟硬件神经网络训练,解决了模拟硬件神经网络训练对数学模型依赖的问题。
-
公开(公告)号:CN119322245A
公开(公告)日:2025-01-17
申请号:CN202411466433.6
申请日:2024-10-21
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种面向多种新原理器件阵列的阵列测试装置,包括阵列测试主板、半导体参数分析仪、上位机,阵列测试主板包括微控制器、多块矩阵开关板卡,矩阵开关板卡包括移位寄存器、继电器组阵列,其中继电器组的公共端与待测阵列连接,接点端为与半导体参数分析仪连接的SMU端、无电学连接的Float端、连接外部源表的Vref端和GND端;微控制器接收上位机通信指令,向各矩阵开关板卡上的移位寄存器串行发送控制信号,移位寄存器再向所在矩阵开关板卡上继电器组的控制端口并行输出控制信号,通过继电器组的开关切换实现半导体参数分析仪对待测阵列上的器件进行测试。本发明所述装置具有可扩展性,能够对多种类新原理器件阵列高效测量,同时降低了各类噪声对待测信号的影响以及串扰影响,提高了测试精度。
-
公开(公告)号:CN114282478B
公开(公告)日:2023-11-17
申请号:CN202111372955.6
申请日:2021-11-18
Applicant: 南京大学
IPC: G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种修正可变电阻器件阵列点乘误差的方法,包括(1)将目标电导矩阵初始化写入可变电阻器件阵列;(2)计算可变电阻器件阵列的有效电导矩阵;(3)将步骤(2)所得的有效电导矩阵与目标电导矩阵对比,若满足收敛条件,则该方法执行完毕,否则继续执行以下步骤:将差值矩阵乘以调节系数η得到误差电导矩阵,根据此误差矩阵来调节实际硬件阵列上每个可变电阻器件的阻值,即调节实际可变电阻器件的电导矩阵Gwrite为Gwrite=G′write‑Gerror;其中Gerror为误差电导矩阵,G′write为上一次实际写入可变电阻器件的电导矩阵;调节之后,重复执行步骤(2)和(3),直到满足步骤(3)中的停止条件。本发明能够显著提高可变电阻器件阵列当中线路电阻引起的矩阵运算误差的修正效果,有广泛应用价值和潜力。
-
公开(公告)号:CN118569331A
公开(公告)日:2024-08-30
申请号:CN202410650458.5
申请日:2024-05-24
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种模拟硬件神经网络的训练方法及装置,包括:输入训练信息到模拟硬件神经网络,模拟硬件神经网络对输入信号建立响应,测量模拟硬件神经网络的输出结果;在模拟硬件神经网络运行的同时,给特定网络节点注入微扰信号,测量微扰信号产生的响应;根据两次测量的结果,更新模拟硬件神经网络内部的参数。本发明具有比现有技术具有更高的识别率和通用性,适用于所有类型的模拟硬件神经网络训练,解决了模拟硬件神经网络训练对数学模型依赖的问题。
-
-
-
-