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公开(公告)号：CN117849047A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311705270.8
申请日：2023-12-12
Applicant: 华南理工大学 , 广州现代产业技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种全自动正反面翻转检测系统及方法。本发明系统包括翻转模块、驱动模块、拍摄模块、工控检测模块；翻转模块、驱动模块、拍摄模块分别与工控检测模块电性连接；拍摄模块与驱动模块相互连接；翻转模块用于对待测物件进行正反面翻转；驱动模块用于带动拍摄模块在待测物件对应的拍摄区域进行移动；拍摄模块用于对待测物件进行外观图像的拍摄；工控检测模块用于分别控制翻转模块、驱动模块、拍摄模块，根据拍摄的待测物件外观图像进行外观缺陷检测。本发明能提高对超薄集成电路基板等待测物件进行全自动正反面外观缺陷检测的效率。
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