公开(公告)号：CN119574600A

公开(公告)日：2025-03-07

申请号：CN202411854236.1

申请日：2024-12-16

Applicant: 华南师范大学 ,  季华实验室

Inventor： 王达 ,  张敏锐 ,  曹迪 ,  沈博涵 ,  周玉铎 ,  蔡礼烨 ,  王颂 ,  邓少博 ,  陈祎琪 ,  戴思棋 ,  卢秋虹 ,  熊婷 ,  田敏 ,  姜传斌 ,  谭军 ,  周国富

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/04 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种用于透射电镜三维重构样品的制备方法，该方法包括步骤：将纳米粒子分散液滴加到多孔膜载网上，风干后将载网固定在样品杆上，所述多孔膜载网的正方形网格与透射电镜样品杆长轴方向成45°角。通过调整样品处理过程中的载网的摆放位置，能保证尽管不在载网中央的区域，旋转样品杆时样品不会被载网所遮挡，可以扩大样品选择区域，从而有更多的纳米颗粒进行选择，提高了测量效率和三维重构图像质量。

公开(公告)号：CN119619194A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411811524.9

申请日：2024-12-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 卢秋虹 ,  马永会 ,  田敏 ,  熊婷 ,  张敏锐 ,  谭军

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/2055

Abstract: 本申请公开了一种位错分类方法、位错分类装置、位错分类设备、存储介质和计算机程序产品，涉及材料微结构检测分析的技术领域，在本申请中，提出一种通过透射电镜，对面心立方金属孪晶结构中的位错类别进行分析表征的方法。针对位错的伯氏矢量与孪晶面间的几何关系，为区分位错的类别，常规操作至少需要标定出全部位错的伯氏矢量再对比定义位错种类才能做出位错区分。而在本申请中，基于在1个晶带轴附近的衍射矢量的双束成像，简单快捷的区分孪晶结构中三类位错。以此，跳过伯氏矢量的计算和位错分类标定，而直接基于双数成像进行位错的分类判别，实现高效、直接的位错分类。