具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路

    公开(公告)号:CN110286320B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN201910589708.8

    申请日:2019-07-02

    Abstract: 本发明公开了属于直流断路器性能测试装置范围的一种具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路。包括预充电单元、测试电流产生单元、晶闸管触发单元、保护单元、被测半导体组件以及吸能单元。其中:预充电单元与测试电流产生单元,并与电感L1连接组成LC振荡回路,从而产生测试电流;保护单元仅用一个二级管反并联在主回路晶闸管两端;能够限制电抗器由于晶闸管反向恢复过程而承受的电压过冲;吸能单元为一滑动电阻器,并联在被测半导体组件两端。本发明具有测试多种半导体组件的电流关断能力的特点,并且能够防止由于电压过冲造成电抗器绝缘击穿,有效地保护测试用电抗器。

    一种IGBT模块的键合线断裂状态监测方法及装置

    公开(公告)号:CN114002575A

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202111293944.9

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT模块的键合线断裂状态监测方法及装置。该方法包括:采集IGBT模块中下桥IGBT器件的集电极电压;当判断所述集电极电压到零时,对当前集电极电压负向过冲进行采样;建立所述IGBT模块健康状态时集电极电压负向过冲的基准值;将所述当前集电极电压负向过冲和所述基准值进行比较;根据比较结果确定所述IGBT模块的运行状态。利用半桥结构动作器件关断过程的集电极电压负向过冲监测IGBT芯片失效,该方法受电容电压变化影响小,且在不同的负载电流下依然可以保持较高的变化率,能够对IGBT模块发射极键合线部分断裂进行有效监测。

    IGBT模块键合线断裂在线监测装置、监测方法和应用

    公开(公告)号:CN113567825B

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202110843543.X

    申请日:2021-07-26

    Abstract: IGBT模块键合线断裂在线监测装置、监测方法和应用,测量半桥结构中,动作器件关断过程中互补器件的门极电压,通过和预先设置好的阈值比较得出IGBT模块键合线的断裂情况,包括如下步骤:步骤一:研制IGBT模块键合线断裂的在线监测装置,并与处于半桥电路中的IGBT模块相连;步骤二:建立IGBT模块健康状态时VGE随负载电流变化的基准值;步骤三:建立键合线断裂后IGBT模块VGE随负载电流变化的失效阈值;步骤四:启动IGBT模块在线监测装置,按照预定流程工作;步骤五:得出IGBT模块运行状态。

    IGBT模块键合线断裂在线监测装置、监测方法和应用

    公开(公告)号:CN113567825A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110843543.X

    申请日:2021-07-26

    Abstract: IGBT模块键合线断裂在线监测装置、监测方法和应用,测量半桥结构中,动作器件关断过程中互补器件的门极电压,通过和预先设置好的阈值比较得出IGBT模块键合线的断裂情况,包括如下步骤:步骤一:研制IGBT模块键合线断裂的在线监测装置,并与处于半桥电路中的IGBT模块相连;步骤二:建立IGBT模块健康状态时VGE随负载电流变化的基准值;步骤三:建立键合线断裂后IGBT模块VGE随负载电流变化的失效阈值;步骤四:启动IGBT模块在线监测装置,按照预定流程工作;步骤五:得出IGBT模块运行状态。

    一种IGBT模块的键合线断裂状态监测方法及装置

    公开(公告)号:CN114002575B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202111293944.9

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT模块的键合线断裂状态监测方法及装置。该方法包括:采集IGBT模块中下桥IGBT器件的集电极电压;当判断所述集电极电压到零时,对当前集电极电压负向过冲进行采样;建立所述IGBT模块健康状态时集电极电压负向过冲的基准值;将所述当前集电极电压负向过冲和所述基准值进行比较;根据比较结果确定所述IGBT模块的运行状态。利用半桥结构动作器件关断过程的集电极电压负向过冲监测IGBT芯片失效,该方法受电容电压变化影响小,且在不同的负载电流下依然可以保持较高的变化率,能够对IGBT模块发射极键合线部分断裂进行有效监测。

    分段罗氏线圈及压接型电力电子器件电流分布检测方法

    公开(公告)号:CN116679106A

    公开(公告)日:2023-09-01

    申请号:CN202310785907.2

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 分段罗氏线圈及压接型电力电子器件电流分布检测方法,根据被测器件的外型尺寸,确定分段罗氏线圈骨架对应的结构;当确定线圈骨架结构后,将导线均匀缠绕于线圈骨架上,导线的两个端子被引出并接入测量设备;根据骨架结构的形状不同,排列在被测器件周围的线圈个数不同。本发明不需要破坏压接型电力压接型电力电子器件的封装结构,通过所提分段罗氏线圈的外部测量结果即可反映器件内部的电流分布情况,测试完成后的器件依然可以正常使用,因此,所提方法在非侵入性上具有突出优势;此外,本发明所需的采样电路数量更少,成本更加低廉。

    具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路

    公开(公告)号:CN110286320A

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201910589708.8

    申请日:2019-07-02

    Abstract: 本发明公开了属于直流断路器性能测试装置范围的一种具有保护功能的直流断路器半导体组件关断能力测试回路。包括预充电单元、测试电流产生单元、晶闸管触发单元、保护单元、被测半导体组件以及吸能单元。其中:预充电单元与测试电流产生单元,并与电感L1连接组成LC振荡回路,从而产生测试电流;保护单元仅用一个二级管反并联在主回路晶闸管两端;能够限制电抗器由于晶闸管反向恢复过程而承受的电压过冲;吸能单元为一滑动电阻器,并联在被测半导体组件两端。本发明具有测试多种半导体组件的电流关断能力的特点,并且能够防止由于电压过冲造成电抗器绝缘击穿,有效地保护测试用电抗器。

    可拼接组合的电气箱
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN206041253U

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201620859196.4

    申请日:2016-08-09

    Abstract: 本实用新型提供了一种可拼接组合的电气箱,包括多个依次拼接组合的箱体单元,所述箱体单元为内部中空且两侧面及前侧面开口的长方体,在箱体单元的两侧面上分别设有左边框和右边框,箱体单元的右边框和相邻箱体单元的左边框相对接;在箱体单元的前侧面铰接有前门板,在电气箱的两侧面还分别设有左门板和右门板。本实用新型所述的可拼接组合的电气箱,结构简单,易于拼接组合,根据需要来选择箱体单元的数量以调整电气箱的大小,适应了电气设计安装过程中调整电气箱内部空间大小的需要。

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