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公开(公告)号：CN109952513B
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201880004203.4
申请日：2018-04-28
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本申请公开了一种相控阵校测的方法，该方法应用于校测装置，包含第一相控阵和第二相控阵，第一相控阵包含第一射频RF通道，第二相控阵包含第二RF通道，第一RF通道的拓扑结构与第二RF通道的拓扑结构具有镜像对称关系，第二相控阵的辐射阵面与第一相控阵的辐射阵面间隔亚波长距离，通过第二RF通道接收通过第一RF通道发送的耦合信号；根据耦合信号确定第一RF通道对应的幅度偏差值以及相位偏差值；若满足预设误差校正条件，则对第一RF通道所对应的幅度系数与相位系数进行校正；采用目标幅度系数以及目标相位系数测量第一相控阵的性能指标参数。本申请公开了一种校测装置。本申请可以对待测相控阵的全部RF通道进行快速幅相校正,提升检测效率，减小占地面积，降低成本。
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公开(公告)号：CN108988963B
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN201810326946.5
申请日：2018-04-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H04B17/12 , H04B17/30 , H04B7/06 , H04B7/0413
摘要： 一种测试方法，包括：发射设备通过发射天线阵列发射N个信号序列后，从测试设备获取N个信号序列中各信号序列经过信道的相位偏移，根据各信号序列经过信道的相位偏移调整初始测试信号，得到能够在所述测试设备处同相叠加的目标测试信号；目标测试信号为根据各信号序列经过各自信道的相位偏移分别对初始测试信号进行相位调整所得的多个信号序列；再通过发射天线阵列发射目标测试信号。这样使得调整相位后的测试信号在接收天线处形成同相叠加，从而获得有效的信号，进而计算出发射设备的信号指标。由于不需要反射面就能够实现近场测试，因此可以降低近场测试的成本。本申请还公开了一种发射设备和测试设备和测试系统，能够实现以上方法。
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公开(公告)号：CN109952513A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201880004203.4
申请日：2018-04-28
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本申请公开了一种相控阵校测的方法，该方法应用于校测装置，包含第一相控阵和第二相控阵，第一相控阵包含第一射频RF通道，第二相控阵包含第二RF通道，第一RF通道的拓扑结构与第二RF通道的拓扑结构具有镜像对称关系，第二相控阵的辐射阵面与第一相控阵的辐射阵面间隔亚波长距离，通过第二RF通道接收通过第一RF通道发送的耦合信号；根据耦合信号确定第一RF通道对应的幅度偏差值以及相位偏差值；若满足预设误差校正条件，则对第一RF通道所对应的幅度系数与相位系数进行校正；采用目标幅度系数以及目标相位系数测量第一相控阵的性能指标参数。本申请公开了一种校测装置。本申请可以对待测相控阵的全部RF通道进行快速幅相校正,提升检测效率，减小占地面积，降低成本。
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公开(公告)号：CN107765104B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201710786716.2
申请日：2017-09-04
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本申请公开了一种相控阵校测的方法，该方法应用于校测装置，包含第一相控阵和第二相控阵，第一相控阵包含第一射频RF通道，第二相控阵包含第二RF通道，第一RF通道的拓扑结构与第二RF通道的拓扑结构具有镜像对称关系，第二相控阵与第一相控阵间隔亚波长距离，通过第二RF通道接收通过第一RF通道发送的耦合信号；根据耦合信号确定第一RF通道对应的幅度偏差值以及相位偏差值；若满足预设误差校正条件，则对第一RF通道所对应的幅度系数与相位系数进行校正；采用目标幅度系数以及目标相位系数测量第一相控阵的性能指标参数。本申请公开了一种校测装置。本申请可以对待测相控阵的全部RF通道进行快速幅相校正,提升检测效率，减小占地面积，降低成本。
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公开(公告)号：CN108988963A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810326946.5
申请日：2018-04-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H04B17/12 , H04B17/30 , H04B7/06 , H04B7/0413
摘要： 一种测试方法，包括：发射设备通过发射天线阵列发射N个信号序列后，从测试设备获取N个信号序列中各信号序列经过信道的相位偏移，根据各信号序列经过信道的相位偏移调整初始测试信号，得到能够在所述测试设备处同相叠加的目标测试信号；目标测试信号为根据各信号序列经过各自信道的相位偏移分别对初始测试信号进行相位调整所得的多个信号序列；再通过发射天线阵列发射目标测试信号。这样使得调整相位后的测试信号在接收天线处形成同相叠加，从而获得有效的信号，进而计算出发射设备的信号指标。由于不需要反射面就能够实现近场测试，因此可以降低近场测试的成本。本申请还公开了一种发射设备和测试设备和测试系统，能够实现以上方法。
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公开(公告)号：CN107765104A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710786716.2
申请日：2017-09-04
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本申请公开了一种相控阵校测的方法，该方法应用于校测装置，包含第一相控阵和第二相控阵，第一相控阵包含第一射频RF通道，第二相控阵包含第二RF通道，第一RF通道的拓扑结构与第二RF通道的拓扑结构具有镜像对称关系，第二相控阵与第一相控阵间隔亚波长距离，通过第二RF通道接收通过第一RF通道发送的耦合信号；根据耦合信号确定第一RF通道对应的幅度偏差值以及相位偏差值；若满足预设误差校正条件，则对第一RF通道所对应的幅度系数与相位系数进行校正；采用目标幅度系数以及目标相位系数测量第一相控阵的性能指标参数。本申请公开了一种校测装置。本申请可以对待测相控阵的全部RF通道进行快速幅相校正,提升检测效率，减小占地面积，降低成本。
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