公开(公告)号：CN107796305B

公开(公告)日：2019-09-03

申请号：CN201710976667.9

申请日：2017-10-19

Applicant: 华中科技大学无锡研究院

Inventor： 张旭 ,  李晨 ,  王文超

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开一种相位偏折术测量系统标定方法及系统，该方法采用平行阶梯平面镜对显示屏幕反射成像，位姿关系中旋转矩阵可通过一个平行平面镜位置获得，位姿关系中平移矩阵只需改变一次平行阶梯平面镜位置，通过线性求解，可大大简化标定过程和降低测量成本，使标定过程更加自由和高效。

公开(公告)号：CN107796305A

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201710976667.9

申请日：2017-10-19

Applicant: 华中科技大学无锡研究院

Inventor： 张旭 ,  李晨 ,  王文超

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明公开一种相位偏折术测量系统标定方法及系统，该方法采用平行阶梯平面镜对显示屏幕反射成像，位姿关系中旋转矩阵可通过一个平行平面镜位置获得，位姿关系中平移矩阵只需改变一次平行阶梯平面镜位置，通过线性求解，可大大简化标定过程和降低测量成本，使标定过程更加自由和高效。