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公开(公告)号:CN101963492B
公开(公告)日:2011-09-14
申请号:CN201010284037.3
申请日:2010-09-17
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于椭圆柱内反射镜的位移检测装置,该装置将凸透镜成像的原理进行巧妙地运用,通过光致发光物质(或漫反射材料)、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件将光汇聚点的位置检测转化为线阵感光元件上感光最强点的检测,只需通过计算机便可检测出来。装置包括点光源激光器、凸透镜、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件。点光源激光器与椭圆柱内反射镜放置于凸透镜的同一侧;光致发光物质(或漫反射材料)涂在椭圆柱内反射镜的一条焦线上,此焦线与凸透镜的光轴重合;椭圆柱内反射镜的另一焦线放置线阵感光元件,以检测被测表面的位移。该装置结构简单,使用方便,测量精度高。
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公开(公告)号:CN101963492A
公开(公告)日:2011-02-02
申请号:CN201010284037.3
申请日:2010-09-17
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于椭圆柱内反射镜的位移检测装置,该装置将凸透镜成像的原理进行巧妙地运用,通过光致发光物质(或漫反射材料)、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件将光汇聚点的位置检测转化为线阵感光元件上感光最强点的检测,只需通过计算机便可检测出来。装置包括点光源激光器、凸透镜、椭圆柱内反射镜和线阵感光元件。点光源激光器与椭圆柱内反射镜放置于凸透镜的同一侧;光致发光物质(或漫反射材料)涂在椭圆柱内反射镜的一条焦线上,此焦线与凸透镜的光轴重合;椭圆柱内反射镜的另一焦线放置线阵感光元件,以检测被测表面的位移。该装置结构简单,使用方便,测量精度高。
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公开(公告)号:CN102155920B
公开(公告)日:2012-07-25
申请号:CN201110069334.0
申请日:2011-03-22
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于微景深的焊接拼缝测量方法,将光学倍数大于2的相机相对焊接拼缝局部表面斜放,在两次相机与焊接拼缝局部表面不同间距下对局部表面拍摄,从拍摄的两幅图像中提取清晰带,分别获取两清晰带垂直于拼缝方向的中心线上每一像点对应的物点在世界坐标系下的坐标,从而得到世界坐标下的两条直线段,利用两直线段进行平面拟合,即得拼缝局部表面法向矢量值,从其中任一清晰带中提取拼缝局部表面的边界,从而得到拼缝局部表面的宽度以及中心坐标。本发明能稳定、可靠的测量出复杂微细焊缝的拼缝中心坐标、宽度以及局部表面的法向矢量,且操作简单,检测精度高。
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公开(公告)号:CN102155920A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201110069334.0
申请日:2011-03-22
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B11/14
Abstract: 本发明公开了一种基于微景深的焊接拼缝测量方法,将光学倍数大于2的相机相对焊接拼缝局部表面斜放,在两次相机与焊接拼缝局部表面不同间距下对局部表面拍摄,从拍摄的两幅图像中提取清晰带,分别获取两清晰带垂直于拼缝方向的中心线上每一像点对应的物点在世界坐标系下的坐标,从而得到世界坐标下的两条直线段,利用两直线段进行平面拟合,即得拼缝局部表面法向矢量值,从其中任一清晰带中提取拼缝局部表面的边界,从而得到拼缝局部表面的宽度以及中心坐标。本发明能稳定、可靠的测量出复杂微细焊缝的拼缝中心坐标、宽度以及局部表面的法向矢量,且操作简单,检测精度高。
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