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公开(公告)号：CN104517032A
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201410722418.3
申请日：2014-12-02
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明涉及测量技术领域，公开了一种基于B样条曲线的数据点的拟合方法及装置。其中，该方法包括：将未知曲面的测量数据点Qi(i＝0，1，…，n)作为B样条曲线的控制点定义节点向量t0＝…＝tk-1＝0，tr-k+1＝…＝tr＝1，其中，设根据控制点和节点向量构造B样条曲线其中，k为曲线的阶数，r＝n+k；在所构造的B样条曲线上，获得与每一个数据点最近的点设更新为作为新的控制点，构造曲线重复在所构造的B样条曲线上，获得与每一个数据点最近的点直至最短间距，其中最短间距在误差限内。本发明实现了数据点的精确拟合，满足了拟合需求。
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