公开(公告)号：CN117634254A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202311655758.4

申请日：2023-12-05

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 黄晓明 ,  李明 ,  许国良 ,  何磊 ,  钟啸晨

IPC: G06F30/23 ,  G06F119/04 ,  G06F119/02 ,  G06F119/08 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明属于核电技术领域，公开了一种老化条件下核电闸门O型圈安全评估方法及系统，数值试验方法允许研究者在获得永久压缩率的同时，得到接触应力和接触宽度随时间的变化规律。这样，结合精确的界面泄漏率模型，即可预测界面泄漏率随时间的变化规律。针对有着严格泄漏率控制要求的核电闸门，在上述方法的基础上，不难通过最大允许泄漏率求出相应的永久压缩率。依据该方法得到的永久压缩率寿命判据，具有明确的物理意义，可以快速便捷的通过老化研究指导闸门安全性设计和可靠性评估。本发明基于有限元方法建立永久压缩率与无量纲接触应力的关系，可以辅助实验研究，拓展试验成果的应用。