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公开(公告)号：CN117634253A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311655757.X
申请日：2023-12-05
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F30/23 , G06F119/14 , G06F119/08
Abstract: 本发明属于核电技术领域，公开了一种核电闸门O型圈时间相关泄漏率预测方法及系统，包括：模拟热力耦合条件，对闸门O型圈的力学变形特性进行仿真；结合老化数据，对热力耦合条件下闸门O型圈长期松弛特性进行有限元分析；通过密封结构微接触有限元分析，建立粗糙通道实际高度h与平均接触应力SG之间的定量关系；基于泄漏通道流动分析建立泄漏率计算模型；影响因素分析及长期密封性能评估。本发明适用于预测热力耦合条件下闸门的长期泄漏率。模型建立在成熟的机理研究基础上，预测值具有较高的准确性，可以最大程度减少试验试错代价，大幅度降低设计成本。
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