一种全范德华界面拓扑相变忆阻器及其制备方法

    公开(公告)号:CN117835809A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410197886.7

    申请日:2024-02-22

    Abstract: 本发明提出了一种全范德华界面拓扑相变忆阻器及其制备方法,涉及半导体信息存储和人工突触器件技术领域。其制备步骤为:采用脉冲激光沉积法在衬底层上沉积底电极层;采用脉冲激光沉积法,在钙钛矿型衬底上依次沉积钙钛矿牺牲层和存储介质层;采用湿法转移法将存储介质层覆盖在底电极层上;采用磁控溅射法或电子束蒸发法在SiO2/Si衬底表面沉积顶电极层;采用湿法转移法将顶电极层覆盖在存储介质层上。采用湿法转移工艺,依次在底电极层转移叠加拓扑相变材料即存储介质层和顶电极层,实现存储介质层与底电极层之间、存储介质层与顶电极层之间的范德华接触界面,从而减少因为接触缺陷而导致的拓扑相变导电丝成型无序的现象,进而提升拓扑相变忆阻器的性能。

    一种衬底表面的处理方法及其制品和应用

    公开(公告)号:CN120018768A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510167041.8

    申请日:2025-02-14

    Abstract: 本发明涉及半导体电极技术领域,具体涉及一种衬底表面的处理方法及其制品和应用,该处理方法包括以下步骤:S1、使用水溶剂对钛酸锶基材进行处理,然后使用10%~20%体积分数的盐酸溶液进行腐蚀处理45~60min,得到预处理衬底;S2、对得到的预处理衬底进行退火处理,降温,得到具有有序表面台阶结构的衬底。本发明的处理方法,利用钛酸锶作为沉积衬底,其与钙钛矿氧化物SrRuO3的结构相近,可以满足SrRuO3在其上沉积生长,沉积之前先对钛酸锶表面进行特殊处理,使其具有原子级平整表面和有序表面台阶结构,而后再沉积生长SrRuO3,电极表面粗糙度大大降低,由此保证了半导体器件的性能。

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