公开(公告)号：CN118570133A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410607048.2

申请日：2024-05-16

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 唐立新 ,  冯时 ,  肖宇 ,  谭耀昌 ,  杨俊伟 ,  李昆洋

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06T7/10 ,  G06V10/75

Abstract: 本发明公开了一种基于孪生架构的光通信器件表面缺陷检测网络结构及检测方法，属于图像处理相关技术领域。该表面缺陷检测网络结构包括特征提取编码器和特征融合解码器；特征提取编码器由孪生ResNet残差网络、非缺陷特征匹配消除模块和缺陷特征增强模块构成；缺陷特征增强模块由Transformer编解码器和卷积三元组注意力模块组成；特征融合解码器采用多层感知机模块。利用改进的ResNet残差网络同时提取待测样本图像和模板样本图像的多尺度图像特征，消除非缺陷特征，得到差异特征图，经过缺陷特征增强和多层感知机处理，输出最终缺陷区域的分割结果。实现了对光通信器件表面缺陷区域精准快速的分割，显著提高了光通信器件的表面缺陷分割及缺陷检测的效率及精度。