公开(公告)号：CN118168691A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202410314166.4

申请日：2024-03-19

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 刘文中 ,  易文通 ,  李壮壮

IPC: G01K17/00

Abstract: 本发明公开了一种基于热磁效应的瞬态热流密度远程测量方法及系统，属于表面热流密度测量领域。选取预设厚度的磁性薄膜，测量饱和磁化强度下的磁温曲线，拟合得到磁性薄膜在绝对零度下的饱和磁化强度M(0)，热去磁曲线参数γ，磁性薄膜磁化温度依赖性有效指数β；在待测物体的表面覆盖磁性薄膜，并在磁性薄膜不接触热流的背面放置测量线圈，在磁性薄膜上施加热流，测量此时测量线圈的感应电动势，通过感应电压的积分与热流密度积分的β次幂成反比的关系反演热流密度。本方法公开的磁性薄膜热流密度远程测量方法具有高灵敏度系数和高频响热流测试能力，可满足常规高超声速风洞、飞行试验和激波风洞试验的测试需求。

公开(公告)号：CN113280940A

公开(公告)日：2021-08-20

申请号：CN202110575560.X

申请日：2021-05-26

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 刘文中 ,  李壮壮 ,  易文通 ,  朱旖雯 ,  杜中州

IPC: G01K7/36

Abstract: 本发明公开了一种磁纳米温度测量方法及系统，属于磁光测试技术领域，包括：S1、测量磁纳米涂层的磁光克尔角；其中，磁纳米涂层置于待测区域上；磁纳米涂层的居里温度大于待测区域的温度；S2、基于磁纳米涂层的磁光克尔角与磁化强度的线性关系，得到磁纳米涂层的磁化强度；S3、基于居里外斯定律，根据磁纳米涂层的磁化强度，计算得到磁纳米涂层的温度，即待测区域的温度。本发明为非接触式、非侵入式测量，且其中测量磁纳米涂层的磁光克尔角所用的光不限于红外光，也可以是可见光，可以根据不同的测量场景进行选取，能够在不同特殊环境下对待测区域进行非侵入式的温度测量。