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公开(公告)号：CN117073862A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310873840.8
申请日：2023-07-14
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01K7/36
摘要： 本发明公开了一种基于光弹调制磁光克尔光学系统的温度测量方法及装置，属于磁光探测及温度测量技术领域，包括：S 1、调整所述起偏器和所述光弹调制器的光轴方位角，使所述光电探测器的探测光强只有直流分量；并设置所述检偏器的光轴方位角α小于45°，且在所述方位角α下，所述探测光强大于数据采集的量化误差；S2、根据所述探测光强，通过傅里叶变换，得到光强在光弹调制频率的直流幅值、一次谐波幅值、二次谐波幅值；S3、计算磁纳米薄膜样品的磁光信号；S4、改变所述磁纳米薄膜样品的温度，标定所述磁光信号MO(T)与温度T的数值关系。本发明能够直接基于光弹调制磁光克尔光学系统进行温度测量，对样品表面的温度测量能达到mK级别的分辨率。
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公开(公告)号：CN109060163A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201811027724.X
申请日：2018-09-04
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01K7/36
CPC分类号： G01K7/36
摘要： 本发明公开一种可用于电磁加热设备的磁纳米粒子电感测温方法，具体为：以感应线圈为中心，在其两侧对称设置属性相同的同向激励线圈；在温度待测位置放置磁性纳米颗粒；向两激励线圈通入低频交流电流，采集感应线圈的输出电压信号，通过感应线圈输出电压幅值与磁导率的线性相关性计算得到由于磁纳米粒子产生的磁化率。本发明还提供了实现上述方法的装置。本发明通过获取感应线圈检测信号的一次谐波幅值，计算出磁纳米粒子交流磁化率随温度的变化量，进而实现磁纳米温度测量，能够消除环境中铁磁性材料的背景干扰，且有效减小目前磁纳米测量装置的体积，使其能够满足小体积的应用需求。
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公开(公告)号：CN118168691A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410314166.4
申请日：2024-03-19
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01K17/00
摘要： 本发明公开了一种基于热磁效应的瞬态热流密度远程测量方法及系统，属于表面热流密度测量领域。选取预设厚度的磁性薄膜，测量饱和磁化强度下的磁温曲线，拟合得到磁性薄膜在绝对零度下的饱和磁化强度M(0)，热去磁曲线参数γ，磁性薄膜磁化温度依赖性有效指数β；在待测物体的表面覆盖磁性薄膜，并在磁性薄膜不接触热流的背面放置测量线圈，在磁性薄膜上施加热流，测量此时测量线圈的感应电动势，通过感应电压的积分与热流密度积分的β次幂成反比的关系反演热流密度。本方法公开的磁性薄膜热流密度远程测量方法具有高灵敏度系数和高频响热流测试能力，可满足常规高超声速风洞、飞行试验和激波风洞试验的测试需求。
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公开(公告)号：CN113280940A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110575560.X
申请日：2021-05-26
申请人： 华中科技大学
IPC分类号： G01K7/36
摘要： 本发明公开了一种磁纳米温度测量方法及系统，属于磁光测试技术领域，包括：S1、测量磁纳米涂层的磁光克尔角；其中，磁纳米涂层置于待测区域上；磁纳米涂层的居里温度大于待测区域的温度；S2、基于磁纳米涂层的磁光克尔角与磁化强度的线性关系，得到磁纳米涂层的磁化强度；S3、基于居里外斯定律，根据磁纳米涂层的磁化强度，计算得到磁纳米涂层的温度，即待测区域的温度。本发明为非接触式、非侵入式测量，且其中测量磁纳米涂层的磁光克尔角所用的光不限于红外光，也可以是可见光，可以根据不同的测量场景进行选取，能够在不同特殊环境下对待测区域进行非侵入式的温度测量。
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