-
公开(公告)号：CN110426535B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201910544844.5
申请日：2019-06-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明涉及扫描探针成像技术领域，公开了一种基于单量子点的近场探针及探针体系，以及基于该探针体系的检测装置及方法。单量子点扫描近场光学显微探针，是将单量子点通过静电力或化学粘附剂装载到介质针尖用作探针，介质针尖为锥形光纤或者原子力显微镜探针。本发明的近场探针体系能有效地克服传统扫描近场光学探针扭曲样品光学性质、信噪比低、重复性差等缺陷；单量子点近场探针成像分辨率能达到与单量子点尺寸同一量级，一般优于10纳米空间分辨率。检测方法具有基于荧光强度成像和荧光寿命成像，可传感样品形貌、材料成分、光学近场分布等多维度的物理量信息。
-
公开(公告)号：CN110426535A
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201910544844.5
申请日：2019-06-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明涉及扫描探针成像技术领域，公开了一种基于单量子点的近场探针及探针体系，以及基于该探针体系的检测装置及方法。单量子点扫描近场光学显微探针，是将单量子点通过静电力或化学粘附剂装载到介质针尖用作探针，介质针尖为锥形光纤或者原子力显微镜探针。本发明的近场探针体系能有效地克服传统扫描近场光学探针扭曲样品光学性质、信噪比低、重复性差等缺陷；单量子点近场探针成像分辨率能达到与单量子点尺寸同一量级，一般优于10纳米空间分辨率。检测方法具有基于荧光强度成像和荧光寿命成像，可传感样品形貌、材料成分、光学近场分布等多维度的物理量信息。
-
Search Results
2
records
(took 0.013 seconds)
