公开(公告)号：CN120064293A

公开(公告)日：2025-05-30

申请号：CN202510060769.0

申请日：2025-01-15

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 沈卫明 ,  程育奇 ,  曹云康 ,  张以恒 ,  孙依晗 ,  谭宇翔 ,  张雨昕

IPC: G01N21/88 ,  G06V20/70 ,  G06V10/26 ,  G06V10/25 ,  G06V10/82 ,  G06V10/141 ,  G06V10/143 ,  G01N21/64 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明属于缺陷检测领域，并具体公开了一种复杂零件缺陷数据标注方法、缺陷检测方法及多视角多光照数据采集装置，数据采集装置中，由转台提供待测零件的多个视角，光源的设计提供给相机多个光照条件，保证了待测零件完整表面图像的信息获取；对于缺陷数据，为避免人为对图像像素进行标注，提前在缺陷位置进行荧光标记，因此在采集过程中的荧光光照条件下，可以获得清晰的缺陷位置；利用三级缺陷分割方法，获得图像中缺陷位置的高精度像素级掩码信息。本发明可实现复杂零件的多个视角和光照条件下的数据采集，并可对缺陷数据进行自动化标注。