公开(公告)号：CN105159840B

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201510675524.5

申请日：2015-10-16

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 霍文捷 ,  刘政林 ,  李妙心 ,  张文卿

IPC: G06F12/02

Abstract: 本发明公开了一种闪存器件的软信息提取方法，包括离线训练与在线运行两部分，在离线状态下，对目标闪存器件进行先验性实验，实验测试内容包括对闪存器件内部物理块的存储单元进行大量重复的擦除、写入以及读出操作，从而记录闪存器件在其测试周期内的外部特征量；然后进行数据集训练，建立闪存内部存储单元物理状态与外部特征量之间的关联；在线运行状态下，对正在在线运行的闪存物理状态进行识别，并预估错误率，并计算软信息。本发明所提出的方法不仅不依赖于闪存内部的特殊命令，而且可以方便地集成进自主闪存控制器中，与LDPC纠错模块相配合，实现对先进工艺闪存器件的高强度纠错，满足固态存储对先进工艺闪存器件数据纠错的需求。

公开(公告)号：CN105159840A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201510675524.5

申请日：2015-10-16

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 霍文捷 ,  刘政林 ,  李妙心 ,  张文卿

IPC: G06F12/02

Abstract: 本发明公开了一种闪存器件的软信息提取方法，包括离线训练与在线运行两部分，在离线状态下，对目标闪存器件进行先验性实验，实验测试内容包括对闪存器件内部物理块的存储单元进行大量重复的擦除、写入以及读出操作，从而记录闪存器件在其测试周期内的外部特征量；然后进行数据集训练，建立闪存内部存储单元物理状态与外部特征量之间的关联；在线运行状态下，对正在在线运行的闪存物理状态进行识别，并预估错误率，并计算软信息。本发明所提出的方法不仅不依赖于闪存内部的特殊命令，而且可以方便地集成进自主闪存控制器中，与LDPC纠错模块相配合，实现对先进工艺闪存器件的高强度纠错，满足固态存储对先进工艺闪存器件数据纠错的需求。