公开(公告)号：CN109634527A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201811514746.9

申请日：2018-12-12

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 刘政林 ,  周新 ,  鲁赵骏 ,  张海春

IPC: G06F3/06

Abstract: 本发明公开了一种SSD内实现的闪存寿命预测方法，包括：(1)获取待测闪存芯片的特征量；(2)对特征量中的一种或几种进行运算操作，得到运算处理值，将特征量及运算处理值构成集合，取集合中的子集输入到预测模型中获得数据处理结果；(3)根据数据处理结果对预测模型进行训练，从而实现对所述预测模型的更新；(4)根据数据处理结果以及更新后的预测模型对闪存芯片的寿命进行预测，获得所述闪存芯片的寿命预测值。本发明通过实时采集每次SSD操作的数据作为预测和训练的输入，更加贴合实际SSD上的闪存使用情况，得出的预测结果更加准确。

公开(公告)号：CN109634527B

公开(公告)日：2020-06-09

申请号：CN201811514746.9

申请日：2018-12-12

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 刘政林 ,  周新 ,  鲁赵骏 ,  张海春

IPC: G06F3/06

Abstract: 本发明公开了一种SSD内实现的闪存寿命预测方法，包括：(1)获取待测闪存芯片的特征量；(2)对特征量中的一种或几种进行运算操作，得到运算处理值，将特征量及运算处理值构成集合，取集合中的子集输入到预测模型中获得数据处理结果；(3)根据数据处理结果对预测模型进行训练，从而实现对所述预测模型的更新；(4)根据数据处理结果以及更新后的预测模型对闪存芯片的寿命进行预测，获得所述闪存芯片的寿命预测值。本发明通过实时采集每次SSD操作的数据作为预测和训练的输入，更加贴合实际SSD上的闪存使用情况，得出的预测结果更加准确。