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公开(公告)号：CN102706887A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210155932.4
申请日：2012-05-18
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供一种天线检测设备，用于对RFID天线进行检测，包括：开卷装置、收卷装置和依次布置在两者之间的静夹持组件、真空吸附组件、外观检测装置、电阻检测装置和动夹持组件，开卷装置开卷的天线基板通过动夹持组件输送到检测处，动夹持组件松开，静夹持组件将天线基板夹紧，真空吸附组件天线基板吸附在检测支撑面板上，外观检测装置和电阻检测装置分别进行检测，检测完成后，收卷装置将检测完成的天线基板成卷回收。本发明还公开了一种利用上述设备进行RFID天线检测的步骤。本发明可以实现对RFID天线外形尺寸和包括粘连、毛刺、断连、沙眼等在内的多种缺陷的检测，精度高、效率快，而且适应性强，针对不同种类和大小的RFID天线，均可实现检测。
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公开(公告)号：CN103721893B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310689355.1
申请日：2013-12-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于RFID标签生产的点胶控制设备，包括XYZ三轴运动单元、针筒单元、图像采集单元、设备控制单元以及气路调整单元，其中通过对点胶前后的点胶位置、胶滴固化前后的形状尺寸、针筒内部的压力和温度、点胶高度等予以检测，并相应执行闭环控制处理，能够在对点胶压力和点胶时间等关键工艺参数进行控制的同时，使得点胶位置和胶滴的最终形状尺寸满足工艺要求。通过本发明，能够对RFID标签的整个封装过程执行快速、精确和全面的质量控制，同时具备结构紧凑、便于操控和适应性强等特点，因而适于各类RFID标签的高质量生产过程。
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公开(公告)号：CN102706887B
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201210155932.4
申请日：2012-05-18
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供一种天线检测设备，用于对RFID天线进行检测，包括：开卷装置、收卷装置和依次布置在两者之间的静夹持组件、真空吸附组件、外观检测装置、电阻检测装置和动夹持组件，开卷装置开卷的天线基板通过动夹持组件输送到检测处，动夹持组件松开，静夹持组件将天线基板夹紧，真空吸附组件天线基板吸附在检测支撑面板上，外观检测装置和电阻检测装置分别进行检测，检测完成后，收卷装置将检测完成的天线基板成卷回收。本发明还公开了一种利用上述设备进行RFID天线检测的步骤。本发明可以实现对RFID天线外形尺寸和包括粘连、毛刺、断连、沙眼等在内的多种缺陷的检测，精度高、效率快，而且适应性强，针对不同种类和大小的RFID天线，均可实现检测。
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公开(公告)号：CN103721893A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310689355.1
申请日：2013-12-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于RFID标签生产的点胶控制系统，包括XYZ三轴运动单元、针筒单元、图像采集单元、系统控制单元以及气路调整单元，其中通过对点胶前后的点胶位置、胶滴固化前后的形状尺寸、针筒内部的压力和温度、点胶高度等予以检测，并相应执行闭环控制处理，能够在对点胶压力和点胶时间等关键工艺参数进行控制的同时，使得点胶位置和胶滴的最终形状尺寸满足工艺要求。通过本发明，能够对RFID标签的整个封装过程执行快速、精确和全面的质量控制，同时具备结构紧凑、便于操控和适应性强等特点，因而适于各类RFID标签的高质量生产过程。
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