公开(公告)号：CN119086320A

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202411332053.3

申请日：2024-09-24

Applicant: 华东理工大学

Inventor： 朱明亮 ,  尧全恒 ,  陈蓉 ,  李小龙 ,  黄毓晖 ,  郭素娟 ,  轩福贞

IPC: G01N3/36 ,  G01N3/06

Abstract: 本发明公开了一种预测不同应力比下焊接接头疲劳裂纹扩展门槛值的方法，包括：在常温下进行疲劳裂纹扩展门槛值测试，获取母材区在基准应力比R0下的基准疲劳裂纹扩展门槛值#imgabs0#建立母材区任意应力比R下的疲劳裂纹扩展门槛值ΔKth,(R)与基准疲劳裂纹扩展值#imgabs1#之间的同区预测关系式；根据同区预测关系式计算疲劳裂纹扩展门槛值ΔKth,(R)；引入非母材区域硬度与母材区硬度的比值α和异区门槛值影响因子Y(R)，建立非母材区在应力比R下的疲劳裂纹扩展门槛值ΔKth,(R),Other与基准疲劳裂纹扩展值#imgabs2#之间的异区预测关系式；根据异区预测关系式计算疲劳裂纹扩展门槛值ΔKth,(R),Other。本发明仅需实测母材区在一基准应力比下的疲劳裂纹扩展门槛值，可大幅缩短测试周期，且准确性高。