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公开(公告)号：CN119471301A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411504045.2
申请日：2024-10-25
Applicant: 华东光电集成器件研究所
Abstract: 本发明涉及一种集成电路电阻特性的自动测试方法，其特征在于包括以下步骤：1）、对该集成电路所用到的芯片及稳压器在常温常压、常温低压、低温常压、高温常压下进行自动测试，提取相应的数据；2）、采用加电进行电压测试的方式进行电阻检测。3）、采用Excel数据表格形式输入，可单只，也可批量输入。4）、根据产品技术指标要求，确定补偿计算目标，设置直观目标值。5）、通过补偿电路原理图，综合计算符合输出要求的外接电阻阻值，计算中采用迭代方式进行，选出最优结果。6）、并将此补偿求解计算公式采用编程语言实现计算结果。本发明的优点在于：能够对批量批次集成电路电阻进行自动计算补偿，使得计算补偿效率高、补偿精度高，提高了集成电路生产效率。
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