公开(公告)号：CN118533767A

公开(公告)日：2024-08-23

申请号：CN202410561156.0

申请日：2024-05-07

Applicant: 北华航天工业学院

Inventor： 王延仓 ,  刘帅飞 ,  王金杲 ,  宗发见 ,  张西界 ,  宋天真

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/55 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明专利公开一种基于高光谱技术玉米籽粒胚芽区霉变检测方法，包括a.利用高光谱设备采集玉米籽粒胚芽区的光谱数据；b.利用归一化方法对步骤a中获取的高光谱数据进行处理；c.针对步骤b中归一化方法处理后的高光谱信息数据，提取玉米籽粒胚芽区的五个特征波段，并构建波长、归一化光谱反射率的二维空间坐标系；d.利用步骤c中的五个特征波段建立的二维空间坐标，分别计算特征一T1和特征二T2；e.利用步骤d中的特征一T1和特征二T2计算最终区分特征C,当最终区分特征C＜阈值时为霉变玉米籽粒，当C≥阈值时为正常玉米籽粒；本发明弥补传统种子活力测定方法的不足的问题，能有效提取玉米籽粒胚芽区霉变区的信息，实现玉米籽粒霉变信息的检测。

公开(公告)号：CN115541503A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202211116345.4

申请日：2022-09-14

Applicant: 山东泓盛智能科技有限公司 ,  北华航天工业学院

Inventor： 王延仓 ,  宋天真 ,  张西界

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/59

Abstract: 本申请公开了一种基于光谱透视技术的玉米霉变比率快速检测方法，包括以下步骤：采集霉变玉米样本的光谱；对采集的光谱数据进行平滑去噪处理；借助离散小波算法将获取的系列透视曲线进行重采样获得光谱分辨率2nm、4nm、8nm、16nm、32nm、64nm较低透视曲线，并结合相关性分析算法提取相对透视率、绝对透视率及其他透视指标曲线内的敏感特征；基于敏感特征利用偏最小二乘算法构建玉米霉变比率估测模型，并利用评估指标对检测精度进行评价；采用基于TC、TR构建的估测模型，并取二者的估测结果的平均值作为最终诊断结果。