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公开(公告)号：CN105426302B
公开(公告)日：2017-12-29
申请号：CN201510729151.5
申请日：2015-10-30
Applicant: 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 公开了一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法与装置。所述方法包括：根据待测PLC的测试任务，从预先设置的PLC测试脚本库中选取与测试任务对应的PLC控制指令；基于所述PLC控制指令及TCL内建指令构建测试用例；并将所述测试用例下发到下位机系统；下位机系统根据所述测试用例产生激励信号，并将所述激励信号发送给待测PLC；基于所述激励信号对待测PLC进行测试。其中，PLC控制指令扩展库包括：初始化扩展库命令、注册扩展命令、写单/多通道数字量命令、读单/多通道数字量命令、采样计数器命令等。本发明简化了真实环境的复杂和测试步骤的繁琐，提高了测试效率；增加故障注入，模拟可能出现的异常情况，提高了测试覆盖率和可靠性。
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公开(公告)号：CN105426302A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510729151.5
申请日：2015-10-30
Applicant: 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F11/36
CPC classification number: G06F11/3688 , G06F11/3652
Abstract: 公开了一种基于TCL脚本构建PLC外围设备等效器的方法与装置。所述方法包括：根据待测PLC的测试任务，从预先设置的PLC测试脚本库中选取与测试任务对应的PLC控制指令；基于所述PLC控制指令及TCL内建指令构建测试用例；并将所述测试用例下发到下位机系统；下位机系统根据所述测试用例产生激励信号，并将所述激励信号发送给待测PLC；基于所述激励信号对待测PLC进行测试。其中，PLC控制指令扩展库包括：初始化扩展库命令、注册扩展命令、写单/多通道数字量命令、读单/多通道数字量命令、采样计数器命令等。本发明简化了真实环境的复杂和测试步骤的繁琐，提高了测试效率；增加故障注入，模拟可能出现的异常情况，提高了测试覆盖率和可靠性。
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公开(公告)号：CN105260311A
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201510700492.X
申请日：2015-10-26
Applicant: 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 公开了PLC层次化建模和使用其的测试方法，其中该测试方法包括：根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库，获取与待测PLC对应的PLC模型；基于PLC模型，查询预设的PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系，确定与待测PLC对应的测试资源；利用测试资源以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。本发明通过建立PLC模型库能够根据待测PLC的参数信息快速搭建PLC模型；通过建立总线地址映射关系以及连接关系构建PLC软件测试的测试资源库，能够依据搭建的PLC模型确定与该PLC设备对应的测试资源，从而能够针对不同的待测PLC进行测试，测试环境的通用性好。
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公开(公告)号：CN105260311B
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201510700492.X
申请日：2015-10-26
Applicant: 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 公开了PLC层次化建模和使用其的测试方法，其中该测试方法包括：根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库，获取与待测PLC对应的PLC模型；基于PLC模型，查询预设的PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系，确定与待测PLC对应的测试资源；利用测试资源以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。本发明通过建立PLC模型库能够根据待测PLC的参数信息快速搭建PLC模型；通过建立总线地址映射关系以及连接关系构建PLC软件测试的测试资源库，能够依据搭建的PLC模型确定与该PLC设备对应的测试资源，从而能够针对不同的待测PLC进行测试，测试环境的通用性好。
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