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公开(公告)号:CN109029379B
公开(公告)日:2020-10-20
申请号:CN201810589576.4
申请日:2018-06-08
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01C11/08
Abstract: 本发明一种高精度小基高比立体测绘方法,步骤为:(1)一台相机在轨道高度为H,基线长度为B的两个位置对地进行拍摄,采集获取两幅图像;(2)对两幅图像分别进行基于频域晶胞的总变分正则化MTFC预处理;(3)计算得到校正畸变后的两幅图像;(4)计算得到两幅核线重采样后的图像;(5)计算得到一幅匹配后的视差图;(6)求得整幅图各个像素点处的相对高程值;(7)通过约束K个控制点计算的绝对高程与真实高程的误差平方和最小,来求解参考面高度,通过参考面高程加上各个点处的相对高程值,求得整幅图像各个点处的绝对高程。
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公开(公告)号:CN109029379A
公开(公告)日:2018-12-18
申请号:CN201810589576.4
申请日:2018-06-08
Applicant: 北京空间机电研究所
IPC: G01C11/08
CPC classification number: G01C11/08
Abstract: 本发明一种高精度小基高比立体测绘方法,步骤为:(1)一台相机在轨道高度为H,基线长度为B的两个位置对地进行拍摄,采集获取两幅图像;(2)对两幅图像分别进行基于频域晶胞的总变分正则化MTFC预处理;(3)计算得到校正畸变后的两幅图像;(4)计算得到两幅核线重采样后的图像;(5)计算得到一幅匹配后的视差图;(6)求得整幅图各个像素点处的相对高程值;(7)通过约束K个控制点计算的绝对高程与真实高程的误差平方和最小,来求解参考面高度,通过参考面高程加上各个点处的相对高程值,求得整幅图像各个点处的绝对高程。
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