一种高精度小基高比立体测绘方法

    公开(公告)号:CN109029379B

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN201810589576.4

    申请日:2018-06-08

    Abstract: 本发明一种高精度小基高比立体测绘方法,步骤为:(1)一台相机在轨道高度为H,基线长度为B的两个位置对地进行拍摄,采集获取两幅图像;(2)对两幅图像分别进行基于频域晶胞的总变分正则化MTFC预处理;(3)计算得到校正畸变后的两幅图像;(4)计算得到两幅核线重采样后的图像;(5)计算得到一幅匹配后的视差图;(6)求得整幅图各个像素点处的相对高程值;(7)通过约束K个控制点计算的绝对高程与真实高程的误差平方和最小,来求解参考面高度,通过参考面高程加上各个点处的相对高程值,求得整幅图像各个点处的绝对高程。

    一种紧凑型大视场互嵌式全反射光学系统

    公开(公告)号:CN109459844B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN201811043169.X

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种紧凑型大视场互嵌式全反射光学系统,解决空间受限,视场较大的应用需求,通过二次成像折叠光路,缩短整体尺寸,更重要的是利用主镜和三镜、二镜和四镜的相对位置关系,尽可能减少镜片的加工数量,实现简单、紧凑的光学系统结构。本发明解决了空间受限和视场较大的应用需求,并实现简单、紧凑的光学系统结构。

    一种高精度小基高比立体测绘方法

    公开(公告)号:CN109029379A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810589576.4

    申请日:2018-06-08

    CPC classification number: G01C11/08

    Abstract: 本发明一种高精度小基高比立体测绘方法,步骤为:(1)一台相机在轨道高度为H,基线长度为B的两个位置对地进行拍摄,采集获取两幅图像;(2)对两幅图像分别进行基于频域晶胞的总变分正则化MTFC预处理;(3)计算得到校正畸变后的两幅图像;(4)计算得到两幅核线重采样后的图像;(5)计算得到一幅匹配后的视差图;(6)求得整幅图各个像素点处的相对高程值;(7)通过约束K个控制点计算的绝对高程与真实高程的误差平方和最小,来求解参考面高度,通过参考面高程加上各个点处的相对高程值,求得整幅图像各个点处的绝对高程。

    一种紧凑型大视场互嵌式全反射光学系统

    公开(公告)号:CN109459844A

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201811043169.X

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种紧凑型大视场互嵌式全反射光学系统,解决空间受限,视场较大的应用需求,通过二次成像折叠光路,缩短整体尺寸,更重要的是利用主镜和三镜、二镜和四镜的相对位置关系,尽可能减少镜片的加工数量,实现简单、紧凑的光学系统结构。本发明解决了空间受限和视场较大的应用需求,并实现简单、紧凑的光学系统结构。

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