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公开(公告)号:CN118710662A
公开(公告)日:2024-09-27
申请号:CN202410709881.8
申请日:2024-06-03
申请人: 北京科技大学
摘要: 本发明涉及显微图像表征与分析技术领域,提供一种免训练的显微图像关键区域识别方法及装置。所述方法包括:基于显微图像微结构区域标记与成像特征标记融合的关键点输入策略,为图像输入模型时提供准确的提示点;将显微图像与提示点结果输入SAM模型,模型依赖提示工程从图像中分割得到前景或背景分割结果;根据灰度、结构等特征,从分割结果中提取目标区域,并进行单独或整体的数量、形态、位置等特征统计,得到显微图像目标区域表征结果。在无须训练的条件下,在不同原材料、不同结构、不同成像设备的图像上均能取得大幅优于传统基于规则的分割、接近甚至超越基于有监督学习方法的效果。
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公开(公告)号:CN116934805A
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN202310822418.X
申请日:2023-07-05
申请人: 北京科技大学
摘要: 本发明提供一种材料显微图像原子运动追踪与位错检测方法及系统,涉及材料表征图像分析技术领域,包括:使用透射电子显微镜获取原子及缺陷运动显微视频流,对关键帧进行提取,组成关键帧序列;使用多椭圆拟合算法获取原子中心点坐标,并通过仿射变换方法获取识别到的原子的邻接关系模型;根据原子中心点坐标以及邻接关系模型,追踪关键帧序列中原子的运动情况,并记录运动方向与位移数据;根据原子运动追踪结果以及邻接关系模型,对发生较大位移的原子进行位错检测,构建位错关系追踪结果表,并标记可能发生位错运动的区域。本发明提升了原子中心点定位的效率和准确度,直观展示原子显微结构的运动情况,为观察原子运动、分析材料特性提供了便利。
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