公开(公告)号：CN116611218A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310448882.7

申请日：2023-04-24

Applicant: 北京电子工程总体研究所

Inventor： 张远朦 ,  葛蒸蒸 ,  李玉伟 ,  马巍 ,  黄硕

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04 ,  G06F119/14 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明公开一种基于混合效应的多应力加速试验评估方法，包括：基于混合效应构建多应力加速模型；利用蒙特卡洛期望极大化算法对所述多应力加速模型参数进行估计；根据所述估计结果，计算环境参数的相关系数，确定应力耦合情况，并对产品寿命进行评估。本发明通过混合效应方法考虑多应力之间可能存在的耦合作用，使加速模型更加贴合实际情况，提高了模型评估的精度；通过使用蒙特卡洛期望极大化方法进行参数估计，解决了多应力加速模型参数复杂，且存在多重积分无法直接计算的问题；通过考虑多应力之间的耦合作用，并采用期望极大化算法，在提高参数估计准确的同时，提高算法的计算效率，最终达到提高寿命评估准确程度的目的。

公开(公告)号：CN116611217A

公开(公告)日：2023-08-18

申请号：CN202310448880.8

申请日：2023-04-24

Applicant: 北京电子工程总体研究所

Inventor： 张远朦 ,  葛蒸蒸 ,  李玉伟 ,  马巍 ,  黄硕

IPC: G06F30/20 ,  G06F30/17 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开一种整机级电子产品加速贮存寿命验证方案设计方法，该方法进一步通过如下步骤实现：将器件级电子产品加速退化试验数据转化为伪寿命数据，使用整体极大似然估计方法对产品寿命分布模型和加速模型参数进行估计；根据参数估计结果，计算器件级产品加速因子及其分散性；根据所述器件级产品加速因子和分散性，计算整机级电子产品加速因子及分散性；根据已知的整机级电子产品加速贮存验证试验样本个数和对应可靠度下需要验证的贮存寿命，设计加速贮存寿命验证方案。本发明验证结果准确度更高，算法简单，存在解析解，可操作性强。