公开(公告)号：CN116452576A

公开(公告)日：2023-07-18

申请号：CN202310500718.6

申请日：2023-05-06

Applicant: 北京理工大学珠海学院

Inventor： 薛帅 ,  刘俊志 ,  许伟 ,  孙康 ,  张静 ,  沈洋 ,  谢小荣

IPC: G06T7/00 ,  G06T5/00 ,  G06T7/90

Abstract: 本申请涉及无损检测技术领域，公开了基于深度学习的磁痕缺陷识别方法及系统，该方法包括：步骤1：在光照条件下采集磁化后的待检件的图像；步骤2：对采集图像进行图像处理，获取二值化处理结果和RGB数值；步骤3：将二值化处理结果和RGB数值分别与磁痕缺陷模型数据库中的数据进行比对；步骤4：基于比对结果生成待检件的磁痕缺陷识别结果；步骤5：将具有磁痕缺陷的待检件的图像和磁痕缺陷识别结果作为训练样本进行深度学习，并将深度学习结果输入磁痕缺陷模型数据库。该系统适用该基于深度学习的磁痕缺陷识别方法。本申请的基于深度学习的磁痕缺陷识别方法及系统，检测流程自动化程度较高，检测结果的准确度高、可靠性高。