公开(公告)号：CN103822971A

公开(公告)日：2014-05-28

申请号：CN201410079667.5

申请日：2014-03-06

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 徐春广 ,  彭凯 ,  肖定国 ,  郭祥辉 ,  樊琼 ,  杨柳

IPC: G01N29/30

Abstract: 本发明涉及一种超声显微镜分辨力测试及校准方法，适用于超声无损检测领域，可用于验证超声检测系统的横向和纵向缺陷检测能力，通过对超声显微镜检测结果进行校准使检测更为准确。本方法通过激光微纳技术在光学玻璃片上表面刻蚀了一系列微米级小孔，超声显微成像所能辨别的最少微孔尺寸即为横向检测分辨力，通过对标准量块纵截面进行超声显微测量计算像素补偿值实现横向校准。设计玻璃楔块试样，利用声时法进行厚度测量，所能测量的最薄水层厚度值即为纵向检测分辨力，将测量值与理论计算值进行分析求得线性拟合方程实现纵向校准。该方法操作简单，易于实现，解决了超声缺陷检测能力的客观评估问题，使超声显微镜的检测结果更准确可靠。

公开(公告)号：CN103822971B

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201410079667.5

申请日：2014-03-06

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 徐春广 ,  朱延玲 ,  肖定国 ,  彭凯 ,  郭祥辉 ,  樊琼 ,  杨柳

IPC: G01N29/30

Abstract: 本发明涉及一种超声显微镜分辨力测试及校准方法，适用于超声无损检测领域，可用于验证超声检测系统的横向和纵向缺陷检测能力，通过对超声显微镜检测结果进行校准使检测更为准确。本方法通过激光微纳技术在光学玻璃片上表面刻蚀了一系列微米级小孔，超声显微成像所能辨别的最少微孔尺寸即为横向检测分辨力，通过对标准量块纵截面进行超声显微测量计算像素补偿值实现横向校准。设计玻璃楔块试样，利用声时法进行厚度测量，所能测量的最薄水层厚度值即为纵向检测分辨力，将测量值与理论计算值进行分析求得线性拟合方程实现纵向校准。该方法操作简单，易于实现，解决了超声缺陷检测能力的客观评估问题，使超声显微镜的检测结果更准确可靠。

公开(公告)号：CN103808804A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201410080599.4

申请日：2014-03-06

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 徐春广 ,  彭凯 ,  郭祥辉 ,  肖定国 ,  樊琼 ,  杨柳

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明涉及一种超声显微伪彩色快速映射成像方法，利用高频超声可以对被测材料表面、亚表面及其内部一定深度内的细微结构进行显微成像，具有高灵敏度、高分辨率和图像直观等特点，适用于电子封装、复合材料及医学应用的超声检测领域。本方法通过设置被测试样的数据采集参数和扫查参数，并根据A扫信号设置闸门，获得每个扫查点数据闸门内峰值数据，将数据值转化为灰度值，将各个不同灰度值按照线性映射函数变换成不同的RGB颜色值，快速映射生成超声显微检测的伪彩色图像，使图像细节更易辨认，目标更易识别。该方法结合数据采集技术、图象重建技术、自动化技术，获得被测试样内部结构的伪彩色超声图像，为检测存在于被测试样中的缺陷尺寸、形状和分布提供辅助手段。