-
公开(公告)号：CN119540311B
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510073039.4
申请日：2025-01-17
Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司
Abstract: 本发明涉及光学仪器校准技术领域，尤其涉及一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统，包括：成像数据采集模块，用以采集标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据，设备数据采集模块，用以采集成像环境数据和荧光显微镜的设备数据，样本数据处理模块，用以对标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据进行处理，样本数据分析模块，用以对目标成像数据的成像状态进行分析，成像质量分析模块，对成像质量进行分析，设备异常分析模块，用以对设备异常性进行分析，校准模块，用以生成荧光显微镜的校准方案。本发明有效提高了荧光显微镜的校准效率和校准准确性。
-
公开(公告)号：CN119540311A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202510073039.4
申请日：2025-01-17
Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司
Abstract: 本发明涉及光学仪器校准技术领域，尤其涉及一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统，包括：成像数据采集模块，用以采集标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据，设备数据采集模块，用以采集成像环境数据和荧光显微镜的设备数据，样本数据处理模块，用以对标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据进行处理，样本数据分析模块，用以对目标成像数据的成像状态进行分析，成像质量分析模块，对成像质量进行分析，设备异常分析模块，用以对设备异常性进行分析，校准模块，用以生成荧光显微镜的校准方案。本发明有效提高了荧光显微镜的校准效率和校准准确性。
-
Search Results
2
records
(took 0.03 seconds)
