公开(公告)号：CN119223932B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411759547.X

申请日：2024-12-03

Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司 ,  中国计量科学研究院

Inventor： 张玲 ,  祝天宇 ,  刘清秀 ,  邱成 ,  吴怀义 ,  龙成章 ,  石进平 ,  陈春芳 ,  邸玉龙 ,  叶青 ,  周梦娜

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明涉及设备校准技术领域，尤其涉及一种荧光显微镜计量校准方法及系统，通过设置检测端与主机连接，检测端设有标准光源及与物镜放大倍数匹配的微孔阵列板，以标准光源作为标准光源，主机以电信号控制其发光强度可调，采用微孔阵列板使得光源呈均匀透光、等刻度及梯度点阵排布，依次进行物镜放大率、成像均匀性、成像线性、光学线性校准，系统不仅具有可溯源性、可重复使用性、可控性，而且使用成本低，可靠性高；同时，通过对被测荧光显微镜的目镜放大率、光均匀性、成像线性、光学线性的逐步校准，确保了测量数据的准确可靠性。

公开(公告)号：CN119540311A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202510073039.4

申请日：2025-01-17

Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司

Inventor： 祝天宇 ,  孔维恒 ,  张玲 ,  朱娟 ,  李江丽 ,  黄楷平

IPC: G06T7/33 ,  G06T7/73 ,  G06N20/00

Abstract: 本发明涉及光学仪器校准技术领域，尤其涉及一种基于机器学习的荧光显微镜校准系统，包括：成像数据采集模块，用以采集标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据，设备数据采集模块，用以采集成像环境数据和荧光显微镜的设备数据，样本数据处理模块，用以对标准样本的原始成像数据和标准样本的目标成像数据进行处理，样本数据分析模块，用以对目标成像数据的成像状态进行分析，成像质量分析模块，对成像质量进行分析，设备异常分析模块，用以对设备异常性进行分析，校准模块，用以生成荧光显微镜的校准方案。本发明有效提高了荧光显微镜的校准效率和校准准确性。

公开(公告)号：CN119223932A

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411759547.X

申请日：2024-12-03

Applicant: 北京林电伟业电子技术有限公司 ,  中国计量科学研究院

Inventor： 张玲 ,  祝天宇 ,  刘清秀 ,  邱成 ,  吴怀义 ,  龙成章 ,  石进平 ,  陈春芳 ,  邸玉龙 ,  叶青 ,  周梦娜

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明涉及设备校准技术领域，尤其涉及一种荧光显微镜计量校准方法及系统，通过设置检测端与主机连接，检测端设有标准光源及与物镜放大倍数匹配的微孔阵列板，以标准光源作为标准光源，主机以电信号控制其发光强度可调，采用微孔阵列板使得光源呈均匀透光、等刻度及梯度点阵排布，依次进行物镜放大率、成像均匀性、成像线性、光学线性校准，系统不仅具有可溯源性、可重复使用性、可控性，而且使用成本低，可靠性高；同时，通过对被测荧光显微镜的目镜放大率、光均匀性、成像线性、光学线性的逐步校准，确保了测量数据的准确可靠性。