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公开(公告)号：CN116909874A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310645054.2
申请日：2023-06-02
Applicant: 北京机电工程研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于模型的软件回归测试方法，包括：根据变动前的旧模型生成第一测试用例集，根据变动后的新模型生成第二测试用例集；建立旧模型中各模型元素与第一测试用例集中各测试用例之间的映射关系、新模型中各模型元素与第二测试用例集中各测试用例之间的映射关系；对旧模型和新模型进行模型变化分析，识别受到模型变化影响的模型元素，并对受影响的模型元素进行分类；根据覆盖准则从受影响的模型元素中确定回归测试需要覆盖的目标；选择覆盖特定目标的回归测试用例作为最终回归测试用例集；基于最终回归测试用例集完成软件回归测试。本发明能够解决现有技术中人工进行测试用例集的选取存在用例冗余、覆盖性和有效性不足的技术问题。
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公开(公告)号：CN111723008B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202010471820.4
申请日：2020-05-29
Applicant: 北京机电工程研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种基于状态转换图的测试路径生成方法，该方法包括：判断是否需要覆盖状态转移对；在不需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个中间状态的第一测试路径集；生成覆盖每一个转移的测试路径并与第一测试路径集取并集得到第二测试路径集；确定第一循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第一循环子路径的测试路径并与第二测试路径集取并集得到第三测试路径集；在需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个状态转移对的第四测试路径集；确定第二循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第二循环子路径的测试路径并与第四测试路径集取并集得到第五测试路径集。本发明能够解决现有技术中生成测试路径方法效率低和覆盖不充分的技术问题。
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公开(公告)号：CN111723008A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010471820.4
申请日：2020-05-29
Applicant: 北京机电工程研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明提供了一种基于状态转换图的测试路径生成方法，该方法包括：判断是否需要覆盖状态转移对；在不需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个中间状态的第一测试路径集；生成覆盖每一个转移的测试路径并与第一测试路径集取并集得到第二测试路径集；确定第一循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第一循环子路径的测试路径并与第二测试路径集取并集得到第三测试路径集；在需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个状态转移对的第四测试路径集；确定第二循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第二循环子路径的测试路径并与第四测试路径集取并集得到第五测试路径集。本发明能够解决现有技术中生成测试路径方法效率低和覆盖不充分的技术问题。
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