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公开(公告)号：CN106841257B
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201710110346.0
申请日：2017-02-27
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 北京有色金属研究总院
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及电镜分析技术领域，涉及一种单根一维纳米材料截面应力的分析方法。该方法包括：(1)确定待分析的单根一维纳米材料并使其长轴方向与样品杆倾转轴线方向垂直；(2)确定衍射点，得到系列倾转电子衍射谱；(3)按照倾转角度顺序排列，形成原始倒空间三维强度矩阵；进一步处理得到真实的倒空间三维衍射强度分布矩阵；(4)从所述倒空间三维衍射强度分布矩阵中提取二维强度分布信息；(5)将二维强度分布信息与理论电子衍射模拟结果结合，确定待分析的一维纳米材料截面应力分布状态。本发明能够对单个一维纳米材料的截面应力状态进行分析，弥补了X射线衍射方法对大量一维纳米材料进行统计平均分析的不足。
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公开(公告)号：CN106841257A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710110346.0
申请日：2017-02-27
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 北京有色金属研究总院
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明涉及电镜分析技术领域，涉及一种单根一维纳米材料截面应力的分析方法。该方法包括：(1)确定待分析的单根一维纳米材料并使其长轴方向与样品杆倾转轴线方向垂直；(2)确定衍射点，得到系列倾转电子衍射谱；(3)按照倾转角度顺序排列，形成原始倒空间三维强度矩阵；进一步处理得到真实的倒空间三维衍射强度分布矩阵；(4)从所述倒空间三维衍射强度分布矩阵中提取二维强度分布信息；(5)将二维强度分布信息与理论电子衍射模拟结果结合，确定待分析的一维纳米材料截面应力分布状态。本发明能够对单个一维纳米材料的截面应力状态进行分析，弥补了X射线衍射方法对大量一维纳米材料进行统计平均分析的不足。
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公开(公告)号：CN203156625U
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201320167445.X
申请日：2013-04-07
申请人： 北京有色金属研究总院
IPC分类号： B25B11/00
摘要： 本实用新型公开了一种电动负压拾取器，其包括：一可被夹持的壳体，该壳体内部带有空腔且前后端均具有开口；一空心管，置于壳体前端，且空心管的内空心腔与壳体内部的空腔导通；一可受电源控制启停的轴流风机，置于壳体的空腔内；在空心管的前口端可设有过滤网片；所述壳体内部空腔的截面积应大于空心管内腔的截面积。其使用方便且效果极佳，在移动样品片时，不用夹取，可以彻底防止金属样品片在移动时的破损变形。
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公开(公告)号：CN202362183U
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201120490871.8
申请日：2011-12-01
申请人： 北京有色金属研究总院
IPC分类号： G01N1/28
摘要： 本实用新型公开了一种金属样品片固定加工装置，其包括有：一个底座，由底部的圆台与位于其上的中部圆形凸台组合而成；一用于固定金属样品片的圆环，套设在底座的中部圆形凸台上，圆环上部是内径与金属样品片外径相匹配的环形凸台，环形凸台的高度小于金属样品片加工后的厚度，圆环下部的内侧是与底座中部圆形凸台同高的环形台，圆环下部的外侧是用于与底座底部圆台相固定连接的环形台或连接块；底座和用于固定金属样品片的圆环相互固定连接。其方便金属片的加工；且即使加工的很薄，也可以防止金属片在夹取时发生破碎。
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公开(公告)号：CN203266460U
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201320168636.8
申请日：2013-04-07
申请人： 北京有色金属研究总院
IPC分类号： B25B9/02
摘要： 本实用新型公开了一种恒压镊子，包括两条弹性钢片组成的镊子本体，该两条弹性钢片中的前端分别铆接有长条形的弹性镊头，至少是在镊子本体的一个弹性钢片的内侧设有一凸台，该凸台可以设计为高度可调的，弹性镊头的厚度和宽度都比镊子本体的弹性钢片小。其使用方便且效果极佳，由于夹取力恒定，故而在夹取样品片时，不会夹坏样品片。
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