缓存一致性检验方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN115618801A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211527653.6

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及芯片技术领域,其实施方式提供了一种缓存一致性检验方法、装置及电子设备。其中一种缓存一致性检验方法,包括:根据缓存模块在执行缓存指令时的硬件状态集合构建所述缓存模块对应的状态机模型;根据所述状态机模型在基于缓存一致性协议下的行为特征构建验证属性;将所述状态机模型和所述验证属性输入基于时间自动机的模型检测器,根据所述模型检测器的输出得到缓存一致性验证结果。本发明提供的实施方式提升了基于测试向量的仿真技术的完备性和协议级别验证的可靠性。

    缓存一致性检验方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN115618801B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211527653.6

    申请日:2022-12-01

    Abstract: 本发明涉及芯片技术领域,其实施方式提供了一种缓存一致性检验方法、装置及电子设备。其中一种缓存一致性检验方法,包括:根据缓存模块在执行缓存指令时的硬件状态集合构建所述缓存模块对应的状态机模型;根据所述状态机模型在基于缓存一致性协议下的行为特征构建验证属性;将所述状态机模型和所述验证属性输入基于时间自动机的模型检测器,根据所述模型检测器的输出得到缓存一致性验证结果。本发明提供的实施方式提升了基于测试向量的仿真技术的完备性和协议级别验证的可靠性。

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