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公开(公告)号：CN103472427B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310447213.4
申请日：2013-09-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置，该校准装置包括：合成源，至少一组分频器和功分器，待测源，调制器，参考源和相位噪声测量装置，所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频，分频后的信号传输至合路器，该合路器对信号进行处理输出离散谱序列，该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置，同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号，并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量，测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。该校准装置可以实现远载频和近载频分析傅氏频率范围0.01Hz～100MHz内的准确度测量，同时提高了测量精度，还可以立即给出测量结果的误差。
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公开(公告)号：CN103472427A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310447213.4
申请日：2013-09-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置，该校准装置包括：合成源，至少一组分频器和功分器，待测源，调制器，参考源和相位噪声测量装置，所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频，分频后的信号传输至合路器，该合路器对信号进行处理输出离散谱序列，该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置，同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号，并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量，测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。该校准装置可以实现远载频和近载频分析傅氏频率范围0.01Hz～100MHz内的准确度测量，同时提高了测量精度，还可以立即给出测量结果的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102435972B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201110335328.5
申请日：2011-10-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置，该装置包括：第一高稳晶振通过第一选通开关经第一倍频器、第一锁相环路、第一低噪声压控振荡器、第一隔离放大器、第二倍频器、第一梳状谱发生器、第一梳状滤波器、第一功率放大器和第一微波源连接至所述微波检相端口，所述第一隔离放大器还与所述第一锁相环路连接；第二高稳晶振通过第二选通开关经第二倍频器、第二锁相环路、第二低噪声压控振荡器、第二隔离放大器、第四倍频器、第二梳状谱发生器、第二梳状滤波器、第二功率放大器和第二微波源连接至所述微波检相端口，所述第二隔离放大器还与所述第二锁相环路连接。本发明对提高相位噪声测量的验证能力具有重要意义。
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公开(公告)号：CN103472319B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310449775.2
申请日：2013-09-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明涉及一种基于查表补偿技术的近载频相位噪声修正装置，该修正装置包括待测源，检相器，参考源,白噪声源，所述参考源与待测源经过检相器混频后，输出低频差拍信号至环路放大器进行放大，放大后的信号经环路增益选择开关、环路滤波器、环路滤波选择开关至加法器，该加法器与偏置电压源合成输出信号至参考源的压控电压输入端；所述白噪声源的信号经加法器，参考源，检相器至低噪声放大器进行放大，放大后的噪声信号经数据采集器采集分析得到环路补偿数据，该补偿数据通过环路特性存储表单进行存储。所述修正装置能大幅缩减了近载频修正的时间，使相位噪声的测量过程更加快捷。同时对不同环路的调整过程，不会额外增加近载频修正时间。
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公开(公告)号：CN102608421A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210058706.4
申请日：2012-03-07
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种相位噪声傅氏分析频率范围扩展装置，该装置包括低噪声放大器、带通滤波器组、频率合成器、混频器、低通滤波器、低速A/D，所述低噪声放大器将接收的宽带噪声放大后输入给带通滤波器组，所述混频器对来自带通滤波器组的滤波信号和来自频率合成器的信号进行混频后输入给低通滤波器，该低通滤波器对混频后的信号进行滤波后输入给低速A/D。本发明能解决微波毫米波信号远载频相位噪声测量的问题，适用于远载频相位噪声的测量。
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公开(公告)号：CN103472319A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310449775.2
申请日：2013-09-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/26
Abstract: 本发明涉及一种基于查表补偿技术的近载频相位噪声修正装置，该修正装置包括待测源，检相器，参考源,白噪声源，所述参考源与待测源经过检相器混频后，输出低频差拍信号至环路放大器进行放大，放大后的信号经环路增益选择开关、环路滤波器、环路滤波选择开关至加法器，该加法器与偏置电压源合成输出信号至参考源的压控电压输入端；所述白噪声源的信号经加法器，参考源，检相器至低噪声放大器进行放大，放大后的噪声信号经数据采集器采集分析得到环路补偿数据，该补偿数据通过环路特性存储表单进行存储。所述修正装置能大幅缩减了近载频修正的时间，使相位噪声的测量过程更加快捷。同时对不同环路的调整过程，不会额外增加近载频修正时间。
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公开(公告)号：CN102435972A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110335328.5
申请日：2011-10-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置，该装置包括：第一高稳晶振通过第一选通开关经第一倍频器、第一锁相环路、第一低噪声压控振荡器、第一隔离放大器、第二倍频器、第一梳状谱发生器、第一梳状滤波器、第一功率放大器和第一微波源连接至所述微波检相端口，所述第一隔离放大器还与所述第一锁相环路连接；第二高稳晶振通过第二选通开关经第二倍频器、第二锁相环路、第二低噪声压控振荡器、第二隔离放大器、第四倍频器、第二梳状谱发生器、第二梳状滤波器、第二功率放大器和第二微波源连接至所述微波检相端口，所述第二隔离放大器还与所述第二锁相环路连接。本发明对提高相位噪声测量的验证能力具有重要意义。
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