一种毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备和方法

    公开(公告)号:CN118294023A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410395202.4

    申请日:2024-04-02

    Abstract: 本发明公开一种毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备和方法,包括:第一参考负载,用于提供第一温度的噪声,第二参考负载,用于提供第二温度的噪声;所述第一温度小于第二温度;主极化栅网,用于实现第一参考负载和第二参考负载噪声分量的极化分离与合成,得到第一参考负载的噪声垂直和平行极化分量、第二参考负载的噪声垂直和平行极化分量;辅助极化栅网,用于屏蔽进入辐射计的第二参考负载的噪声垂直极化分量;测温装置,用于测量第一参考负载和第二参考负载的物理温度;转动结构,用于控制毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备本身进行转动,以控制辐射计的接收天线极化方向与主极化栅网线栅方向的相对角度。本发明测量速度快,误差小。

    高温环境下材料介电常数的获取系统及方法

    公开(公告)号:CN105388363B

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201510683127.2

    申请日:2015-10-20

    Abstract: 本发明公开一种高温环境下材料介电常数的获取系统及方法,该方法包括如下步骤:S1、不启动高温箱,对高温环境下材料介电常数的获取系统进行校准,并获取常温环境下收、发天线间的直通S参数;S2、将待测材料放入测量夹具中并利用高温箱加热使待测材料处于高温环境中,测量高温环境下待测材料的S参数,并根据常温环境下的直通S参数修正高温环境下待测材料的S参数的高温误差;S3、对高温误差修正后待测材料的S参数进行相位修正,得到传输相位修正后的待测材料的S参数;S4、根据传输相位修正后的待测材料的S参数计算并获取待测材料介电常数。本发明所述技术方案可在室温~1500℃温度范围获取准确可靠的材料介电常数。

    一种低温液位计
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108426621A

    公开(公告)日:2018-08-21

    申请号:CN201810417530.4

    申请日:2018-05-04

    Abstract: 本发明公开了一种低温液位计,属于液位测量技术领域。所述低温液位计包括金属管、铂电阻温度传感器和电阻测量模块;所述铂电阻温度传感器包括有分布在所述金属管内不同高度位置的第一铂电阻温度传感器、第二铂电阻温度传感器和第三铂电阻温度传感器;所述电阻测量模块用以测量所述第一铂电阻温度传感器、第二铂电阻温度传感器和第三铂电阻温度传感器的电阻值。本发明的低温液位计结构简单、成本低,且操作简单。

    一种信号源综合参数现场测量装置

    公开(公告)号:CN106841824A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201611161106.5

    申请日:2016-12-15

    Abstract: 本发明公开一种信号源综合参数现场测量装置,包括:射频前端模块、频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块、频谱纯度测量模块和显示控制模块;射频前端模块的输入端作为信号源综合参数现场测量装置的待测信号输入端,射频前端模块的输出端分别连接频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输入端,频率测量模块、衰减测量模块、调制度测量模块和频谱纯度测量模块的输出端均连接显示控制模块的输入端。本发明可实现对信号源各项技术指标的测量。

    一种同轴阻抗标准器的定标方法

    公开(公告)号:CN101788610B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN201010109120.7

    申请日:2010-02-11

    Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法,包括第一步:测量几何量,第二步:计算趋肤效应的影响量,第三步:计算阶越电容的影响量,第四步:计算偏心量的影响量,第五步:计算特性阻抗,第六步:计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外,还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正,有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。

    一种同轴阻抗标准器的定标方法

    公开(公告)号:CN101788610A

    公开(公告)日:2010-07-28

    申请号:CN201010109120.7

    申请日:2010-02-11

    Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法,包括第一步:测量几何量,第二步:计算趋肤效应的影响量,第三步:计算阶越电容的影响量,第四步:计算偏心量的影响量,第五步:计算特性阻抗,第六步:计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外,还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正,有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。

    一种提高温度控制稳定性方法和装置

    公开(公告)号:CN113885602A

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111055743.5

    申请日:2021-09-09

    Abstract: 本申请公开了一种提高温度控制稳定性方法和装置,对被控温物体进行测量,获得温度测量值,根据温度测量值和温度设定值的差,通过温度控制算法得到加热器驱动电压理想值;设定驱动电压值离散序列,当温度设定值和温度测量值的差大于第一设定阈值时,直接设定驱动电压值为最接近所述理想值的离散值;当温度设定值和温度测量值小于第二设定阈值时,取与所述理想值相邻的两个离散值,用PWM方式改变驱动电压值;调节被控温物体的温度,使温度测量值趋近温度设定值。本申请的方法和装置在保证较小电磁干扰的情况下,还能有效降低控温振荡。

    极化栅网缠绕金属丝的定位件、缠绕方法和极化栅网

    公开(公告)号:CN108832234B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201810628316.3

    申请日:2018-06-19

    Abstract: 本发明公开了一种极化栅网缠绕金属丝的定位件、缠绕方法和极化栅网,解决了现有技术中极化栅网随着金属丝密度提高缠绕难度增加,金属丝排列不均匀的问题。所述极化栅网包括线框和金属丝,所述线框包括两两相对的第一边和第二边;该极化栅网缠绕金属丝的定位件包括有螺纹孔,用以将所述定位件固定连接在所述第二边外侧;所述定位件远离所述第二边的一侧表面设有平行排列的凹槽,用以在缠绕金属丝时容纳金属丝,所述凹槽的间距等于金属丝的间距。本发明提供的极化栅网缠绕方法制造出的极化栅网金属丝排列均匀、定位件可重复利用、产品品质一致性高。

    一种周期阵列结构辐射体新型微波窗及测试方法

    公开(公告)号:CN109473753A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811389223.6

    申请日:2018-11-21

    Abstract: 本申请公开了一种周期阵列结构辐射体新型微波窗,包括隔热密闭窗体、气压测量控制单元、气体输入单元、气体输出单元。隔热密闭窗体包括隔热密封支撑板、低损隔热层,与所述辐射体围成密闭内腔;气压测量控制单元将所述密闭内腔实时气压值与原始气压值差值输入,再输出周期脉冲电压信号,控制气体输入单元或气体输出单元将外界气体输入或内腔气体输出平衡气压。本申请还包括测试方法,对辐射体加载试验温度,所述密闭内腔中气压随温度变化而变化,将实时气压值与原始气压值的差值作为输入,即可输出周期脉冲电压信号控制所述第一开关和所述第二开关选择性周期开闭。本申请可实现损耗低、成本低、寿命长的周期阵列结构辐射体新型微波窗。

    高温环境下材料介电常数的获取系统及方法

    公开(公告)号:CN105388363A

    公开(公告)日:2016-03-09

    申请号:CN201510683127.2

    申请日:2015-10-20

    CPC classification number: G01R27/2623 G01R35/005

    Abstract: 本发明公开一种高温环境下材料介电常数的获取系统及方法,该方法包括如下步骤:S1、不启动高温箱,对高温环境下材料介电常数的获取系统进行校准,并获取常温环境下收、发天线间的直通S参数;S2、将待测材料放入测量夹具中并利用高温箱加热使待测材料处于高温环境中,测量高温环境下待测材料的S参数,并根据常温环境下的直通S参数修正高温环境下待测材料的S参数的高温误差;S3、对高温误差修正后待测材料的S参数进行相位修正,得到传输相位修正后的待测材料的S参数;S4、根据传输相位修正后的待测材料的S参数计算并获取待测材料介电常数。本发明所述技术方案可在室温~1500℃温度范围获取准确可靠的材料介电常数。

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