卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184886A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210850450.4

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于卫星海洋遥感技术领域,尤其涉及卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建卫星高度计测距精度的待判定样本集;步骤2,对所述待判定样本集进行预处理,得到第一样本集;步骤3,对所述第一样本集进行沿轨差分处理,得到第二样本集;步骤4,对所述第二样本集进行残余误差剔除处理,得到第三样本集;步骤5,对所述第三样本集进行标准差计算,根据计算结果判断所述卫星高度计在轨测距精度。通过本发明既能够避免样本时间长度过短导致的过拟合问题;也能避免出现欠拟合问题,从而保证对卫星高度计在轨测距精度的判断准确客观。

    卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184886B

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202210850450.4

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于卫星海洋遥感技术领域,尤其涉及卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建卫星高度计测距精度的待判定样本集;步骤2,对所述待判定样本集进行预处理,得到第一样本集;步骤3,对所述第一样本集进行沿轨差分处理,得到第二样本集;步骤4,对所述第二样本集进行残余误差剔除处理,得到第三样本集;步骤5,对所述第三样本集进行标准差计算,根据计算结果判断所述卫星高度计在轨测距精度。通过本发明既能够避免样本时间长度过短导致的过拟合问题;也能避免出现欠拟合问题,从而保证对卫星高度计在轨测距精度的判断准确客观。

    星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184885A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210849673.9

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于高度计数据处理及分析、定标与检验技术领域,尤其涉及星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建星载高度计的测距噪底的待判定样本集;步骤2,对待判定样本集进行差分处理,得到第一样本集;步骤3,通过第一方案或第二方案对第一样本集中每个有效样本进行计算,得到多个差分SSHA样本功率谱;步骤4,计算多个差分SSHA样本功率谱的平均值;步骤5,根据平均值判断所述星载高度计的测距噪底。通过本发明能够达到避免了过拟合或欠拟合情况的发生,保证了对高度计仪器测距噪底的客观评估,以及对高度计在轨测距精度的准确评价的效果。

    星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184885B

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202210849673.9

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于高度计数据处理及分析、定标与检验技术领域,尤其涉及星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建星载高度计的测距噪底的待判定样本集;步骤2,对待判定样本集进行差分处理,得到第一样本集;步骤3,通过第一方案或第二方案对第一样本集中每个有效样本进行计算,得到多个差分SSHA样本功率谱;步骤4,计算多个差分SSHA样本功率谱的平均值;步骤5,根据平均值判断所述星载高度计的测距噪底。通过本发明能够达到避免了过拟合或欠拟合情况的发生,保证了对高度计仪器测距噪底的客观评估,以及对高度计在轨测距精度的准确评价的效果。

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