一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质

    公开(公告)号:CN117031468A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310993800.7

    申请日:2023-08-08

    Abstract: 本发明涉及合成孔径雷达高度计技术领域,公开一种合成孔径雷达高度计成像处理方法、系统和存储介质,包括:根据合成孔径雷达高度计在成像处理中的初始数据,得到并根据每个目标成像点的多个总延迟校正数据,确定每个目标成像点的多个距离向压缩数据;基于每个目标成像点的多个总延迟校正数据,得到每个目标成像点的目标MASK图,并基于每个目标成像点的目标MASK图和多个距离向压缩数据,得到每个目标成像点的目标波形图并根据波形图,生成合成孔径雷达高度计在成像处理中的目标数据。本发明在不增加运算量的前提下提升了多视波形质量,能够实现合成孔径雷达高度计的高精度成像处理,获取合成孔径雷达高度计成像处理中高质量的L1B数据。

    星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184885B

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202210849673.9

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于高度计数据处理及分析、定标与检验技术领域,尤其涉及星载高度计的测距噪底判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建星载高度计的测距噪底的待判定样本集;步骤2,对待判定样本集进行差分处理,得到第一样本集;步骤3,通过第一方案或第二方案对第一样本集中每个有效样本进行计算,得到多个差分SSHA样本功率谱;步骤4,计算多个差分SSHA样本功率谱的平均值;步骤5,根据平均值判断所述星载高度计的测距噪底。通过本发明能够达到避免了过拟合或欠拟合情况的发生,保证了对高度计仪器测距噪底的客观评估,以及对高度计在轨测距精度的准确评价的效果。

    回波动态调整方法、装置、设备、介质及雷达回波模拟器

    公开(公告)号:CN116466308A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310297868.1

    申请日:2023-03-24

    Abstract: 本发明涉及回波动态调整方法、装置、设备、介质及雷达回波模拟器,该方法包括:获取星载雷达在当前周期对应的雷达工作参数和发射触发脉冲,根据时宽和带宽,从预先存储的不同时宽和带宽对应的基带回波数据中确定目标基带回波数据;根据距离跟踪误差,对目标基带回波数据进行信号处理,得到处理后的信号,处理后的信号对应的距离跟踪误差小于设定值;根据发射触发脉冲,对采样起始时刻进行调整,得到调整后的采样起始时刻;根据调整后的采样起始时刻和处理后的信号,实现对当前周期的回波信号的频率的调整。通过本发明的方法,可实现回波模拟器与星载雷达在工作时序和工作参数上的同步,从而保证雷达载荷的测试全面且充分。

    卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备

    公开(公告)号:CN115184886A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210850450.4

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明属于卫星海洋遥感技术领域,尤其涉及卫星高度计在轨测距精度判断方法、系统、介质及设备。该方法包括:步骤1,构建卫星高度计测距精度的待判定样本集;步骤2,对所述待判定样本集进行预处理,得到第一样本集;步骤3,对所述第一样本集进行沿轨差分处理,得到第二样本集;步骤4,对所述第二样本集进行残余误差剔除处理,得到第三样本集;步骤5,对所述第三样本集进行标准差计算,根据计算结果判断所述卫星高度计在轨测距精度。通过本发明既能够避免样本时间长度过短导致的过拟合问题;也能避免出现欠拟合问题,从而保证对卫星高度计在轨测距精度的判断准确客观。

    频率步进SAR联合电离层与对流层的估计补偿方法及装置

    公开(公告)号:CN115166656A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210792201.4

    申请日:2022-07-05

    Abstract: 本发明公开一种频率步进SAR联合电离层与对流层的估计补偿方法及装置。方法包括:子带回波合成距离向图像时基于最大对比度进行电离层估计补偿;对成像场景进行网格划分,确定成像场景内各网格处的投影距离和延迟投影距离;根据投影距离对距离向图像进行后向投影得到SAR图像,并确定SAR图像的对比度;多次更新对流层斜距,分别确定每次更新后的对流层斜距对应的SAR图及对比度,选取对比度最大值对应的SAR图像。本发明子带回波合成距离向图像时在距离向进行电离层估计补偿,在距离向图像投影生成SAR图像时进行对流层估计补偿,即本发明联合电离层和对流层影响进行估计补偿,可获取聚焦良好的SAR图像。

    面向多通道SAR的方位向均匀采样实现系统及方法

    公开(公告)号:CN113608219A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110832424.4

    申请日:2021-07-22

    Abstract: 本发明涉及种面向多通道SAR的方位向均匀采样实现系统及方法,系统用于通过逆滤波器重构均匀化原始接收信号,矩阵求逆部分通过FPGA实现基于拉格朗日插值的可变阶范德蒙矩阵快速求逆;其中,可变阶范德蒙矩阵快速求逆部分包括元素缓存模块、u矩阵元素计算模块和v矩阵元素计算模块构成的第一支路,π向量及其倒数计算模块构成的第二支路,还包括矩阵乘法模块。本发明通过逆滤波器重构均匀化原始接收信号,实现多通道SAR的方位向均匀采样,且针对逆滤波矩阵求逆部分,通过FPGA实现基于拉格朗日插值的可变阶范德蒙矩阵快速求逆,两个支路并行运算,可有提升运算效率,节省硬件资源,最终在低资源、低延迟情况下实现高精度范德蒙类矩阵求逆运算。

Patent Agency Ranking