-
公开(公告)号：CN116879653A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202310839246.7
申请日：2023-07-10
Applicant: 北京无线电测量研究所
Abstract: 本发明涉及电子组件水冷老化测试装置及老化测试系统。电子组件水冷老化测试装置包括基座；安装座，滑动装配于基座上端，安装座设有用于装配电子组件的装配区；测试输出对接座，装配于基座上部一侧，其靠近安装座的一侧设有与电子组件输出端适配的输出对接插头；第一伸缩机构，装配于基座上，并与安装座连接；测试输入对接座，装配于安装座上部远离测试输出对接座的一侧；第二伸缩机构，装配于测试输入对接座上，并连接有输入对接插头；水冷机构，装配在基座上，并位于测试输出对接座的一侧。优点：结构设计合理，实现了电子自动上下料、自动水冷、视频射频插头自动插拔，有效降低了测试工作量，提升了测试效率。
Search Results
1
records
(took 0.029 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
