公开(公告)号：CN103411986A

公开(公告)日：2013-11-27

申请号：CN201310318108.0

申请日：2013-07-26

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 李玉德 ,  王丽丽 ,  刘世岗 ,  郭非

IPC: G01N23/20

Abstract: 本发明公开了一种薄膜衍射仪，用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括：用于提供线光源的X射线管，用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件，和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器；其中，所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成，并且在薄膜附件的横截面中，所有毛细管的圆心处于一条直线上。本发明增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度，有利于探测器对薄膜材料分析和测试。

公开(公告)号：CN103245445A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201310184645.0

申请日：2013-05-17

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 李玉德 ,  郭非 ,  刘志国 ,  孙天希 ,  林晓燕

IPC: G01L1/25

Abstract: 本发明公开了一种应力仪，用于实现微区残余应力测量。所述应力仪包括：用于提供X射线光源的X射线管，用于将X射线管201发出的X射线收集并出射的聚焦部件，和用于接收经过被测试样衍射后的X射线并进行残余应力测量的探测器；其中，X射线管和探测器位于测角仪圆上，聚焦部件的入口到X射线管的距离为聚焦部件的前焦距，聚焦部件的出口到被测试样的距离为聚焦部件的后焦距。

公开(公告)号：CN203337574U

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201320449508.0

申请日：2013-07-26

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 李玉德 ,  王丽丽 ,  刘世岗 ,  郭非

IPC: G01N23/20

Abstract: 本实用新型公开了一种薄膜衍射仪，用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括：用于提供线光源的X射线管，用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件，和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器；其中，所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成，并且在薄膜附件的横截面中，所有毛细管的圆心处于一条直线上。本实用新型增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度，有利于探测器对薄膜材料分析和测试。

公开(公告)号：CN203274984U

公开(公告)日：2013-11-06

申请号：CN201320272397.0

申请日：2013-05-17

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 李玉德 ,  郭非 ,  刘志国 ,  孙天希 ,  林晓燕

IPC: G01L1/25

Abstract: 本实用新型公开了一种应力仪，用于实现微区残余应力测量。所述应力仪包括：用于提供X射线光源的X射线管，用于将X射线管201发出的X射线收集并出射的聚焦部件，和用于接收经过被测试样衍射后的X射线并进行残余应力测量的探测器；其中，X射线管和探测器位于测角仪圆上，聚焦部件的入口到X射线管的距离为聚焦部件的前焦距，聚焦部件的出口到被测试样的距离为聚焦部件的后焦距。