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公开(公告)号:CN103411986A
公开(公告)日:2013-11-27
申请号:CN201310318108.0
申请日:2013-07-26
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明公开了一种薄膜衍射仪,用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括:用于提供线光源的X射线管,用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件,和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器;其中,所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成,并且在薄膜附件的横截面中,所有毛细管的圆心处于一条直线上。本发明增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度,有利于探测器对薄膜材料分析和测试。
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公开(公告)号:CN203337574U
公开(公告)日:2013-12-11
申请号:CN201320449508.0
申请日:2013-07-26
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本实用新型公开了一种薄膜衍射仪,用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括:用于提供线光源的X射线管,用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件,和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器;其中,所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成,并且在薄膜附件的横截面中,所有毛细管的圆心处于一条直线上。本实用新型增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度,有利于探测器对薄膜材料分析和测试。
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