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公开(公告)号：CN108956537A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810621310.3
申请日：2018-06-15
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N21/55
CPC classification number: G01N21/55 , G01N2021/557
Abstract: 本发明实施例提供一种超快时间分辨瞬态反射光谱仪，包括飞秒激光光源、分束镜、泵浦光系统、探测光系统、光电探测器和计算机；通过分束镜用于将飞秒脉冲激光分为第一脉冲激光和第二脉冲激光，并将所述第一脉冲激光发送至所述泵浦光系统，将所述第二脉冲激光发送至所述探测光系统；所述泵浦光系统用于接收所述第一脉冲激光，对所述第一脉冲激光进行倍频处理得到半波长泵浦光，并将所述半波长泵浦光聚焦至样品表面；所述探测光系统用于对所述第二脉冲激光进行延迟处理，得到全波长探测光，并在所述半波长泵浦光聚焦至样品表面后将所述全波长探测光聚焦至样品上；实现双波长泵浦‑探测的方式，测量块材表面瞬态反射率的相对变化率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105842635A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610162336.7
申请日：2016-03-21
Applicant: 北京工业大学
CPC classification number: G01R33/0041 , G01R33/14
Abstract: 基于线性外推的微磁探头励磁反馈控制方法，实现该方法的内容分为三部分：第一部分是励磁磁路；第二部分是磁场测量模块；第三部分是反馈控制模块。在U型励磁磁路内侧的霍尔元件线阵，采用三个相同型号的霍尔元件Hall1、Hall2、Hall3沿垂直于被测材料或结构表面方向上布置，以测量三个高度位置的切向磁场强度，分别记为H1、H2、H3。在U型励磁磁路内侧放置磁场调整结构后，切向磁场强度梯度降低且线性变化范围扩大，从ZL提高到了ZH。采用由数据采集卡、任意信号激励板卡和控制软件组成的反馈控制模块，通过迭代反馈，使磁感应强度B和表面切向磁场强度H两路信号满足控制变量所设定的要求，提升开环磁路测试系统对饱和磁滞回线的精确测量。
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公开(公告)号：CN105842635B
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201610162336.7
申请日：2016-03-21
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 基于线性外推的微磁探头励磁反馈控制方法，实现该方法的内容分为三部分：第一部分是励磁磁路；第二部分是磁场测量模块；第三部分是反馈控制模块。在U型励磁磁路内侧的霍尔元件线阵，采用三个相同型号的霍尔元件Hall1、Hall2、Hall3沿垂直于被测材料或结构表面方向上布置，以测量三个高度位置的切向磁场强度，分别记为H1、H2、H3。在U型励磁磁路内侧放置磁场调整结构后，切向磁场强度梯度降低且线性变化范围扩大，从ZL提高到了ZH。采用由数据采集卡、任意信号激励板卡和控制软件组成的反馈控制模块，通过迭代反馈，使磁感应强度B和表面切向磁场强度H两路信号满足控制变量所设定的要求，提升开环磁路测试系统对饱和磁滞回线的精确测量。
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公开(公告)号：CN109813654A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201910126792.X
申请日：2019-02-20
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明实施例提供一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置，包括：反射谱系统和计算机；反射谱系统用于从反射光谱中分离获得二次谐波信号以及与探测光同频率的反射信号；计算机用于处理同频率的反射信号以及二次谐波信号，获取具有中心对称晶体结构材料的动力学过程；其中，同频率的反射信号用于反映材料的体态特征，二次谐波信号用于反映材料的表面态特征。本发明实施例通过利用同频率的反射信号反映材料的体态特征，以及利用二次谐波信号反映的材料的表面态特征等原理，从而能够研究或观察具有中心对称晶体结构材料的各种相互作用的动力学过程。
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公开(公告)号：CN109374134A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811280427.6
申请日：2018-10-30
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明实施例提供了一种超快时间分辨瞬态反射光谱成像系统，通过泵浦光光路对第一脉冲激光进行倍频处理得到预设波长的泵浦光，探测光光路对第二脉冲激光进行延迟处理，并产生连续白光作为探测光；泵浦光和探测光先后照射待成像样品后，探测光产生的反射光信号被光谱仪探测光路接收并传输至处理单元，即可根据处理单元对反射光信号的分析处理，确定出待成像样品的瞬态反射率。本发明实施例中提供的超快时间分辨瞬态反射光谱成像系统，可实现多波长探测，将探测范围扩展到白光光谱范围内，对于理解不同频率探测光照射下，待成像样品的瞬态反射率的变化及变化规律提供了极为有利帮助，进而可以从多方面考虑影响待成像样品的材料内部动力学问题。
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公开(公告)号：CN109813654B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN201910126792.X
申请日：2019-02-20
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明实施例提供一种材料表面态二次谐波产生的时间分辨测量装置，包括：反射谱系统和计算机；反射谱系统用于从反射光谱中分离获得二次谐波信号以及与探测光同频率的反射信号；计算机用于处理同频率的反射信号以及二次谐波信号，获取具有中心对称晶体结构材料的动力学过程；其中，同频率的反射信号用于反映材料的体态特征，二次谐波信号用于反映材料的表面态特征。本发明实施例通过利用同频率的反射信号反映材料的体态特征，以及利用二次谐波信号反映的材料的表面态特征等原理，从而能够研究或观察具有中心对称晶体结构材料的各种相互作用的动力学过程。
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