测试方法、装置、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN117010308A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202210470906.4

    申请日:2022-04-28

    Abstract: 本公开涉及一种测试方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括:获取待处理模型对应的目标对象;目标对象包括电路板和目标元器件;获取目标元器件对应的第一网格信息;根据第一网格信息,确定电路板对应的第二网格信息;根据第一网格信息和第二网格信息,获取目标测试模型;根据目标测试模型,对目标对象中的一个或多个进行测试。这样,以元器件为单位确定目标测试模型,可以提高建模和测试的效率,同时也可以使得获取的目标测试模型能够匹配元器件的相关参数,提高模型的可靠性。

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