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公开(公告)号:CN107193050B
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201710357374.2
申请日:2017-05-19
申请人: 北京奥地探测仪器有限公司 , 地质矿产部北京地质仪器厂 , 郭有光
IPC分类号: G01V7/04
摘要: 本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统,包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪;所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜;所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统;所述激光光源射入干涉仪后,经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后,产生三个干涉信号,用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。
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公开(公告)号:CN107193050A
公开(公告)日:2017-09-22
申请号:CN201710357374.2
申请日:2017-05-19
申请人: 北京奥地探测仪器有限公司 , 地质矿产部北京地质仪器厂 , 郭有光
IPC分类号: G01V7/04
CPC分类号: G01V7/04
摘要: 本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统,包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪;所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜;所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统;所述激光光源射入干涉仪后,经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后,产生三个干涉信号,用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。
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公开(公告)号:CN107608000A
公开(公告)日:2018-01-19
申请号:CN201710779455.1
申请日:2017-09-01
申请人: 北京奥地探测仪器有限公司 , 地质矿产部北京地质仪器厂
IPC分类号: G01V3/40
摘要: 本发明涉及一种质子磁力仪的探头,包括电场屏蔽罩、两个线圈和含有丰富氢质子的溶液,溶液灌注到电场屏蔽罩内,两个线圈反方向串联并浸泡在溶液内;线圈的两端设置在电场屏蔽罩的外侧。在使用时,给线圈通电,通电后的线圈产生磁场,可以使溶液中的氢质子按照一个方向有序的排列;然后断电;排列后的氢质子绕地磁场的方向旋转。由于氢质子的旋转频率与地磁场的强度成正比,通过测量氢质子的旋转频率来测量地磁场的强度。
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公开(公告)号:CN207473104U
公开(公告)日:2018-06-08
申请号:CN201721042814.7
申请日:2017-08-18
申请人: 北京奥地探测仪器有限公司 , 地质矿产部北京地质仪器厂
IPC分类号: G01V3/40
摘要: 本实用新型涉及一种用于质子磁力仪开展梯度测量的支撑架,包括支架和至少两个探头夹具,至少两个所述探头夹具沿水平方向或沿垂直方向间隔安装在所述支架上;所述探头夹具可调节的安装在所述支架上;所述探头夹具的两端分别设置有探头安装部(11)和夹持部(12),所述探头夹具通过所述夹持部(12)与所述支架连接。在使用时,可以将质子磁力仪的探头安装到探头夹具上;由于事先已经将探头夹具调整好位置并安装到支架上,因此能够保证至少两个探头之间距离的准确性以及方向的一致性。
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