公开(公告)号：CN107193050A

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201710357374.2

申请日：2017-05-19

申请人： 北京奥地探测仪器有限公司 ,  地质矿产部北京地质仪器厂 ,  郭有光

发明人： 郭有光 ,  洪国强 ,  黄雯迪 ,  薛振海 ,  高铭泽

IPC分类号： G01V7/04

CPC分类号： G01V7/04

摘要： 本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统，包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪；所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜；所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统；所述激光光源射入干涉仪后，经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后，产生三个干涉信号，用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。

公开(公告)号：CN107193050B

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201710357374.2

申请日：2017-05-19

申请人： 北京奥地探测仪器有限公司 ,  地质矿产部北京地质仪器厂 ,  郭有光

发明人： 郭有光 ,  洪国强 ,  黄雯迪 ,  薛振海 ,  高铭泽

IPC分类号： G01V7/04

摘要： 本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统，包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪；所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜；所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统；所述激光光源射入干涉仪后，经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后，产生三个干涉信号，用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。