一种用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法

    公开(公告)号:CN114485279B

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202011157685.2

    申请日:2020-10-26

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法,该系统包括物理屏蔽层(1)和气体屏蔽层(2),还具有偏转磁场组件(3)、高反光率污染物收集镜(4)和高透光率防护膜(5),通过物理屏蔽、气体屏蔽、磁场屏蔽步骤对重频激光打靶系统进行防护。本发明公开的用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法,通过多种方式组合屏蔽实现了对重频激光打靶系统的保护,极大提高了重频激光打靶系统中光学元件的使用寿命。

    一种用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法

    公开(公告)号:CN114485279A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202011157685.2

    申请日:2020-10-26

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法,该系统包括物理屏蔽层(1)和气体屏蔽层(2),还具有偏转磁场组件(3)、高反光率污染物收集镜(4)和高透光率防护膜(5),通过物理屏蔽、气体屏蔽、磁场屏蔽步骤对重频激光打靶系统进行防护。本发明公开的用于重频激光打靶的溅射屏蔽系统及方法,通过多种方式组合屏蔽实现了对重频激光打靶系统的保护,极大提高了重频激光打靶系统中光学元件的使用寿命。

    一种微纳膜厚测量方法和装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118274724A

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202211734269.3

    申请日:2022-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种微纳膜厚测量方法及装置,通过以下步骤对薄膜进行测量:对于厚度150nm以下的薄膜,通过入射光对薄膜进行照射获得膜后透射光,根据反射率、入射光性质、薄膜厚度之间的关系确定薄膜厚度及其二维厚度分布;对于厚度150nm以上的薄膜,通过薄膜对宽谱光的反射光谱确定薄膜厚度。本发明公开的微纳膜厚测量方法及装置,具有检测速度快、检测准确度高、检测成本低、结构紧凑易调节等诸多优点。

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