一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法

    公开(公告)号:CN112361989A

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202011063597.6

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提出了一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,获得高分辨率且均匀性好的点云数据,能够快速确定系统标定中相机、投影仪和标定板的相对位置,得到最佳的标定效果。通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,通过标定的点云数据的均匀性、重投影误差、采集过程的测量分辨率等参数评判点云数据采集质量,解决了相机、投影仪与标定板之间的相对位置摆放的确定性问题。使用的测量分辨率计算方法使用单位像素的自然长度度量,让标定过程更加快速可靠,算法更简单,计算量小;参照显示器亮度均匀性的分布特征,提出了点云数据均匀性的计算方法,用以评价系统标定的结果,合理的评价指标的引入,让获得的点云数据更加稳定。

    一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法

    公开(公告)号:CN112361989B

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202011063597.6

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提出了一种通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,获得高分辨率且均匀性好的点云数据,能够快速确定系统标定中相机、投影仪和标定板的相对位置,得到最佳的标定效果。通过点云均匀性考量测量系统标定参数的方法,通过标定的点云数据的均匀性、重投影误差、采集过程的测量分辨率等参数评判点云数据采集质量,解决了相机、投影仪与标定板之间的相对位置摆放的确定性问题。使用的测量分辨率计算方法使用单位像素的自然长度度量,让标定过程更加快速可靠,算法更简单,计算量小;参照显示器亮度均匀性的分布特征,提出了点云数据均匀性的计算方法,用以评价系统标定的结果,合理的评价指标的引入,让获得的点云数据更加稳定。

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