用于X射线测量的检测装置

    公开(公告)号:CN221993647U

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202420439293.2

    申请日:2024-03-07

    IPC分类号: G01T1/36 G01T1/00

    摘要: 本实用新型公开了一种用于X射线测量的检测装置,涉及X射线测量的技术领域。所述检测装置包括箱体、反应靶、发射组件、环形电离室和检测组件,箱体上设置有入射口,反应靶设置在箱体内,反应靶位于入射口的后方,发射组件设置在入射口内,发射组件位于入射口的前方,发射组件用于发射X射线,环形电离室包括多个同心设置的环形件,每两个相邻的环形件之间形成一个环形腔室,环形电离室设置在箱体内,环形电离室位于反应靶的后方,检测组件设置在箱体内,检测组件位于环形电离室的后方,检测组件用于检测每一个环形腔室中的电子能量的数值。本实用新型的检测装置其结构简单,成本较低。

    用于电子线实验的测试装置

    公开(公告)号:CN221859894U

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202420438703.1

    申请日:2024-03-07

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本实用新型公开了一种用于电子线实验的测试装置,涉及电子线实验的技术领域。所述测试装置包括安装支架、发生组件、均整组件、摆放组件和限光组件,发生组件设置在安装支架的顶部,发生组件的端口竖直向下布置,发生组件的端口用于发出电子线,均整组件可调节地设置在安装支架上,均整组件位于发生组件的下方,均整组件上设置有通孔,摆放组件可调节地设置在安装支架上,摆放组件位于均整组件的下方,摆放组件上用于放置实验对象,限光组件为圆筒状,限光组件设置在摆放组件的顶部,电子线能够穿过限光组件并照射在实验对象上。本实用新型的检测装置有效地保证了发生组件、均整组件、限光组件和摆放组件之间的同轴度和稳定性。