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发明公开
一种针对边缘MCU的PCB板缺陷检测方法、设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN119477878A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202411633664.1

申请日：2024-11-15

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 陈雯柏 , 赵鑫 , 孔祥源 , 李紫阳 , 刘辉翔

IPC: G06T7/00 , G06V10/82 , G06V10/44 , G06N3/0464 , G06N5/04

Abstract: 本发明公开了一种针对边缘MCU的PCB板缺陷检测方法、设备及存储介质，属于PCB缺陷检测技术领域。该方法包括：获取PCB板图像；分别采用可变形卷积和分离特征下采样优化YOLOv10模型；采用优化的YOLOv10模型检测PCB板的缺陷。通过本发明不仅能够显著降低PCB缺陷检测模型对存储和计算资源的需求，还能保持高推理速度和准确性，解决在弱网环境下实时数据处理的问题，有利于优化整个工业互联网系统的响应速度和安全性。

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