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公开(公告)号：CN105674927A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201511026448.1
申请日：2015-12-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机的测量姿态优化方法，包括以下步骤：a)测量姿态优化过程：将姿态优化装置放置在待测空间内，使用关节式坐标测量机对姿态优化测量装置上不同面上的多个锥孔以不同测量姿态进行测量；计算每个采样点数据的重复精度，并与六个关节转角值组成关节式坐标测量机姿态优化数据，并对数据进行处理；借助关节式坐标测量机的辅助支架在处理后测量姿态下对待测物进行测量；b)数据处理过程：通过D-H模型计算第j组测量姿态θ1j、θ2j、θ3j、θ4j、θ5j、θ6j下对应的测头坐标xj、yj、zj，计算对应采样点i的至少50组数据坐标平均值。
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公开(公告)号：CN105547211A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201511026528.7
申请日：2015-12-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机位姿调整与固定的辅助支架，包括：辅助支架主体和控制单元，辅助支架主体包括：用于支撑辅助支架主体的基座、第一夹具、第一托具、第二夹具、气弹簧、电推杆、第二托具、第一关节、第二关节、第三关节、第四关节，第一关节位于远离基座的一端，第一关节、第二关节、第三关节和第四关节依次序连接，第四关节位于靠近基座的一端，第二关节和第四关节之间通过电推杆连接，第三关节和第四关节之间通过气弹簧连接；第一关节上设有固定测量臂的第一夹具和支撑测量臂的第一托具；第一关节和第二关节之间设置有支撑测量臂的第二托具；第四关节上设有固定气弹簧和电推杆的第二夹具。
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公开(公告)号：CN105547211B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201511026528.7
申请日：2015-12-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机位姿调整与固定的辅助支架，包括：辅助支架主体和控制单元，辅助支架主体包括：用于支撑辅助支架主体的基座、第一夹具、第一托具、第二夹具、气弹簧、电推杆、第二托具、第一关节、第二关节、第三关节、第四关节，第一关节位于远离基座的一端，第一关节、第二关节、第三关节和第四关节依次序连接，第四关节位于靠近基座的一端，第二关节和第四关节之间通过电推杆连接，第三关节和第四关节之间通过气弹簧连接；第一关节上设有固定测量臂的第一夹具和支撑测量臂的第一托具；第一关节和第二关节之间设置有支撑测量臂的第二托具；第四关节上设有固定气弹簧和电推杆的第二夹具。
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公开(公告)号：CN105674927B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201511026448.1
申请日：2015-12-31
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明提供了一种关节式坐标测量机的测量姿态优化方法，包括以下步骤：a)测量姿态优化过程：将姿态优化装置放置在待测空间内，使用关节式坐标测量机对姿态优化测量装置上不同面上的多个锥孔以不同测量姿态进行测量；计算每个采样点数据的重复精度，并与六个关节转角值组成关节式坐标测量机姿态优化数据，并对数据进行处理；借助关节式坐标测量机的辅助支架在处理后测量姿态下对待测物进行测量；b)数据处理过程：通过D‑H模型计算第j组测量姿态θ1j、θ2j、θ3j、θ4j、θ5j、θ6j下对应的测头坐标xj、yj、zj，计算对应采样点i的至少50组数据坐标平均值
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