公开(公告)号：CN106897485A

公开(公告)日：2017-06-27

申请号：CN201710014544.7

申请日：2017-01-09

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 冯俊杰 ,  黄慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种智能回归验证管理系统，其特征在于只需要进行一些回归配置，即可完成验证环境和验证激励的更新，同时利用服务器集群的特性，将多任务并行提交到各个服务器上，极大的利用了服务器资源，并且对回归结果进行了自动统计整理，相对于传统的回归验证方式，将回归验证的时间压缩了5到10倍，大大的节省了人工统计所耗费的资源。既从根本上解决了回归验证时间耗时长的问题，又提升了验证质量的监控和验证过程的管理。

公开(公告)号：CN104391784A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201410427401.5

申请日：2014-08-27

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 黄慧敏 ,  陈波涛

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公开了一种基于仿真的故障注入攻击方法和装置，不需要特殊仪器设备，可以在芯片流片之前，实施故障注入攻击，对芯片防故障注入安全设计的防护效果进行评测。根据本发明以仿真的方式实现芯片故障注入攻击，独立于芯片安全防护方案的具体实现，能够在芯片开发流程的任何环节，以最小的代价和最高的效率实现对芯片安全设计防护效果的评测和分析。

公开(公告)号：CN104391784B

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201410427401.5

申请日：2014-08-27

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 黄慧敏 ,  陈波涛

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明公开了一种基于仿真的故障注入攻击方法和装置，不需要特殊仪器设备，可以在芯片流片之前，实施故障注入攻击，对芯片防故障注入安全设计的防护效果进行评测。根据本发明以仿真的方式实现芯片故障注入攻击，独立于芯片安全防护方案的具体实现，能够在芯片开发流程的任何环节，以最小的代价和最高的效率实现对芯片安全设计防护效果的评测和分析。